- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Влияние дефектности структуры на электрофизические свойства термоэлектрических материалов на основе халькогенидов Bi и Sb, полученных методом вертикальной направленной кристаллизации и экструзии
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
2013
Артикул:
340669 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Термомеханическая обработка материалов проходной оптики лазеров среднего ИК - диапазона
- Технология и исследование конденсаторных структур на основе сегнетоэлектрических пленок цирконата-титаната свинца
- Химико-механическое полирование монокристаллов ZnO, NiSb, Cu и цилиндрических подложек Si
- Выращивание квазиоднородных слоев AlxGa1-xAs жидкофазной эпитаксией с подпиткой кристаллическим источником
- Каталитические и газораспределительные слои для создания источников тока
- Разработка технологии пластин полупроводниковых соединений A^III B^V современной точности обработки
- Принципы формирования и свойства фотоэлектрических преобразователей с ультратонким поглощающим слоем
- Исследование причин деградации и разработка подходов к повышению стабильности наноразмерных межсоединений СБИС
- Разработка и исследование технологического процесса, режимов оборудования и методик устранения прозрачных и непрозрачных дефектов при изготовлении фотошаблонов в полупроводниковом производстве
- Повышение однородности состава и равномерности толщины многослойных тонкопленочных покрытий на поверхностях большого размера