- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Восстановление данных послойного ВИМС-анализа сверхтонких структур
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
1999
Кількість сторінок:
94
Артикул:
1000237963 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Конверсионная модель эффекта низкой интенсивности в биполярных интегральных микросхемах космического назначения
- Нанотубулярные формы бора : особенности электронно-энергетического строения и проводящих свойств
- Влияние рентгеновского излучения на параметры полупроводниковых изделий
- Разработка и исследование технологических основ формирования легированных анодных пленок диоксида кремния
- Влияние стехиометрии оптически прозрачных проводящих пленок оксидов индия и олова на их электрофизические и оптические свойства
- Разработка основ технологии электронно-лучевой обработки боролантановых стекол для изготовления компонентов оптико-электронных приборов искусственных спутников Земли
- Термически- и радиационно-стойкие контакты металл-карбид кремния для приборов экстремальной электроники
- Осаждение пленок и отжиг радиационных дефектов в кремниевых структурах при воздействии ИК и УФ излучений
- Минимум энтропии измерений как вычислимая мера запутанности многочастичных квантовых состояний
- Моделирование формирования глубоких канавок в кремнии в Bosch-процессе