Вы здесь

Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов

Автор: 

Шелковников Евгений Юрьевич

Тип работы: 

кандидатская

Год: 

2000

Количество страниц: 

177

Артикул:

1000311191

179 грн

Добавить в корзину

• 
• 
• 

Рекомендуемые диссертации

• Методы и средства контроля формы асферических поверхностей крупногабаритных и светосильных оптических элементов на основе использования осевых синтезированных голограмм
• Разработка метода и средств контроля температуры в зоне сухого трения
• Исследование термовакуумного метода измерения влагосодержания сыпучих материалов и приборов на его основе
• Контроль и прогнозирование параметров крупных лесных пожаров как динамических процессов на поверхности Земли
• Исследование оптико-электронных методов получения и обработки информации о неоднородностях морской среды
• Разработка новых технологий и конструкций мобильных рентгеновских интроскопов
• Разработка программно-алгоритмического обеспечения при измерении траекторных параметров объектов
• Радиолокационные методы и средства получения информации о состоянии морской поверхности
• Метод и средство контроля качества распылителя жидкости по изменению контраста изображения тест-объекта
• Распространение крутильных волн в линейно-протяженных объектах с продольными дефектами