- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Методика исследования метрических характеристик сканов
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
2007
Артикул:
278324 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Разработка методики использования вейвлет-преобразования для обработки космических снимков высокого и среднего разрешения при мониторинге лесных массивов
- Исследование и разработка методов обработки спутниковых микроволновых данных для картографирования геофизических параметров ледового покрова Арктики
- Теория и методы тематической обработки аэрокосмических изображений на основе многоуровневой сегментации
- Теоретическое обоснование цифровой фотограмметрической системы обработки космических снимков высокого разрешения
- Разработка методики создания векторных моделей объектов по результатам наземного лазерного сканирования и цифровой фотосъемки
- Разработка и исследование технологии мониторинга городских территорий по материалам космических съемок сверхвысокого разрешения
- Совершенствование технологии создания планово-картографической основы ведения государственного кадастра недвижимости
- Технология создания электронных ортофотокарт при комплексном использовании аэрокосмических снимков и геоинформационных систем
- Создание и обновление трехмерных реалистичных сцен городских территорий по данным воздушного лазерного сканирования
- Разработка методики автоматизированного дешифрирования космических изображений земной поверхности с использованием системы n-мерных спектральных признаков