Метод повышения метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
1 ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ СОСТОЯНИЯ ПРОБЛЕМЫ
МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ ИССЛЕДОВАНИЯ.
1.1 Характеристика состояния проблемы метрологической надежности средств измерений
1.2 Краткий обзор и анализ известных путей решения задач оценки
и повышения метрологической надежности средств измерений
1.2.1 Методы оценки и прогнозирования состояния метрологических характеристик средств измерений.
1.2.2 Методы повышения метрологической надежности средств измерений.
1.3 Обоснование и выбор методов поиска оптимальный значений метрологической надежности ИИС
1.3.1 Метод покоординатного спуска ГауссаЗейделя
1.3.2 Метод конфигураций
1.3.3 Метод Розенброка
1.3.4 Метод случайного поиска.
1.3.5 Метод сопряженных направлений Пауэлла.
1.4 Постановка задачи оценки и повышения метрологической
надежности. Выбор критериев показателей надежности
Выводы.
2 Методы повышения метрологической надежности информационно
ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ
2.1 Математическое моделирование метрологических характеристик
аналоговых блоков ИИС.
2.1.1. Построение математической модели метрологической характеристики аналогового блока
2.1.2. Статистическое моделирование состояния
метрологических характеристик блоков ИИС
2.1.3 Построение математической модели процесса изменения
во времени метрологической характеристики блока ИИС.
2.2 Анализ способов повышения метрологической надежности
2.2.1 Алгоритм повышения метрологической надежности
2.3Алгоритм решения задачи обеспечения требуемого
метрологического ресурса ИС.
2.4 Алгоритм решения задачи нахождения максимума метрологического ресурса ИС.
2.5 Оптимальный выбор параметров элементов блоков ИС, обеспечивающих максимальную вероятность сохранения метрологической исправности
Выводы.
3 ОБОБЩЕННАЯ МЕТОДИКА ОЦЕНКИ И ПОВЫШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ АБ ИИС
3.1 Общие положения.
3.2 Оценка и прогнозирование состояния метрологических
характеристик блоков ИИС.
3.3 Повышение метрологической надежности ИИС.
Выводы.
4 ПОВЫШЕНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ИИС НК ТФС НА ЭТАПЕ ПРОЕКТИРОВАНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ
РАЗРАБОТАННОЙ МЕТОДИКИ.
4.1 Повышение метрологической надежности ИИС, реализующих
контактные методы НК ТФС материалов.
4.1.1 Повышение МН блока аналогоимпульсного
преобразователя.
4.1.2 Повышение МР по критерию заданного МР.
4.1.3 Повышения МН блока АИЛ по критерию вероятность
метрологической исправности.
4.2Повышение метрологической надежности ИИС, реализующих
бесконтактные методы НК ТФС материалов.
4.2.1 Повышение МН блока входного каскада
4.1.2 Повышение МР по критерию заданного МР
4.2.3 Повышение вероятности метрологической исправности
блока входного каскада
ЗАКЛЮЧЕНИЕ.
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ