Ви є тут

Разработка измерительных программ для ИС К174 с применением методов электрофизического диагностирования в условиях массового производства

Автор: 

Каргин Николай Михайлович

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

1998

Артикул:

1000218453

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Лазерное напыление и исследование пленок высокотемпературного сверхпроводника YBa2 Cu3 O7- δ для применений в пассивных высокочастотных устройствах
• Фокусирующая Френелевская оптика скользящего падения
• Разработка и исследование интегральных прецизионных стабилитронов с регулируемыми выходными характеристиками
• Статистическая теория нестационарных лавинно-пробойных процессов в кремниевых планарных фотодиодных структурах
• Рентгенодифрактометрическое исследование деформаций гетероструктур кубической и гексагональной систем
• Многослойные структуры на эффекте сильного поля в сегнетоэлектрических пленках
• Применение радиационных методов отбраковки потенциально ненадежных гетероструктур в технологии производства суперлюминесцентных диодов
• Электронный транспорт в субмикронных и нанометровых диодных и транзисторных структурах
• Идентификация фаз в системах Ba-Bi-O и K-Ba-Bi-O методами просвечивающей электронной микроскопии
• Молекулярно-лучевая эпитаксия низкоразмерных систем на основе гетероструктурных и ?-легированных квантовых ям на подложках GaAs различной ориентации