Ви є тут

Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей

Автор: 

Быков Виктор Александрович

Тип роботи: 

докторская

Рік: 

2000

Кількість сторінок: 

402

Артикул:

1000299971

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Формирование мелкозалегающих легированных слоев в кремнии диффузией из поверхностного источника в условиях быстрой термической обработки
• Системы считывания для многоэлементных ИК ФПУ третьего поколения
• Исследование кинетики и механизмов взаимодействия газоразрядной фторсодержащей плазмы с поверхностью LiNbO3
• Свойства многослойных затворных структур МОП нанотранзисторов, на основе силицидов и диэлектриков с высоким ?, полученных методами магнетронного распыления и электронно-лучевого испарения
• Электронные и оптические свойства резонансных состояний мелких примесей в полупроводниках и полупроводниковых гетероструктурах AIIIBV
• Влияние конструктивно-технологических факторов на электрические параметры мощных ВЧ и СВЧ МОП транзисторов
• Функциональная электроника : Формирование направления, создание производительных процессоров и запоминающих устройств высокой емкости
• Зависимости электрических параметров нано-МОП транзисторов со структурой КНИ от конструктивных и технологических факторов
• Методы получения и характеристики полиимид - кремниевых микроактюаторов и устройств микромеханики на их основе
• Локальная диагностика объектов микро-, нано- и оптоэлектроники в вакууме, газе и жидкости методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии