Ви є тут

Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов

Автор: 

Шелковников Евгений Юрьевич

Тип роботи: 

кандидатская

Рік: 

2000

Кількість сторінок: 

177

Артикул:

1000311191

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Метод и средства диагностирования подшипниковых узлов с учетом макрогеометрии дорожек качения
• Спектрально-люминесцентные свойства эрбиевых фототерморефрактивных стекол для интегрально-оптических усилителей и лазеров
• Методы и средства неразрушающего контроля теплофизических свойств изделий и образцов из неоднородных твердых материалов
• Разработка и исследование пьезорезистивных микроакселерометров для контроля виброускорений
• Электронный спектрометр для исследования поверхности материалов, сформированной в результате внешних воздействий : на базе электростатического энергоанализатора ЭС-2401
• Усовершенствование метода неразрушающего контроля компакт-дисков
• Методы и система бесконтактного неразрушающего контроля теплофизических свойств твердых материалов и изделий
• Исследование и разработка метода неразрушающего контроля качества никелевых и никель-хромовых покрытий узлов жидкостных ракетных двигателей
• Теоретические и экспериментальные исследования магнитных полей дефектов конечных размеров и создание специализированных сканеров для дефектоскопии трубопроводов
• Сравнительное исследование светоотверждаемых реставрационных материалов и природных тканей методами оптического контроля