- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Развитие и применение методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования свойств точечных контактов
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2001
Кількість сторінок:
111
Артикул:
1000315510 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Разработка и исследование интегрального гальваномагниторекомбинационного преобразователя
- Генерация неравновесных точечных дефектов и сопутствующие ей эффекты при физико-химических воздействиях на поверхность кристаллов
- Исследование влияния СВЧ-излучения высокого уровня мощности на лавинно-пролетные диоды и СВЧ-транзисторы с барьером Шоттки
- Исследование тонкопленочных нанокомпозитов сегнетоэлектрик-полупроводник для оптоэлектронных применений
- Коллективное поведение вихрей и когерентное излучение электромагнитных волн в джозефсоновских структурах
- Разработка методик проектирования преобразователей частоты в интегральном исполнении
- Свойства многослойных затворных структур МОП нанотранзисторов, на основе силицидов и диэлектриков с высоким ?, полученных методами магнетронного распыления и электронно-лучевого испарения
- Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники
- Использование капилляров для формирования контакта металл-полупроводник
- Разработка процессов формирования диэлектрических пленок и микроэлектронных систем для интегральной электроники