Содержание
Стр.
Содержание
Введение
1 Состояние проблемы и задачи исследования
1.1 Фотоприемники ИК диапазонов 3.5 и 8. мкм
1.2 Состояние проблемы согласования параметров приемников и оптикоэлектронных систем
1.3 Задачи исследования
2 Параметры фотодиодов ИК диапазонов 3.5 и 8. мкм
2.1 Чувствительность и обнаружительная способность фотодиодов
2.2 Коэффициент поглощения в кейновских полупроводниках
2.3 Квантовая эффективность фотодиодов
3 Измерение параметров материалов и исследование их свойств
3.1 Разработка методов и средств контроля электрофизических и фотоэлектрических параметров материалов пБЬ, РЬТе и СТе
3.2 Исследование электрофизических свойств пБЬ и РЬТе
3.3 Исследование электрофизических свойств СТе
3.4 Выводы
4 Фотодиоды на ЬгЬ, РЬТе и СШТе
4.1 Технология изготовления фотодиодов на 1п8Ь, РЬТе и СххТе
4.2 Исследование электрических характеристик фотодиодов на пБЬ и РЬТе
4.3 Исследование электрических характеристик фотодиодов на СВДТе
4.4 Квантовая эффективность, чувствительность и обнаружительная способность фото диодов на пБЬ, РЬТе и СсТе
4 5 Фотогальванические многоцветные приемники инфракрасного диапазона
4.6 Конструкция и параметры фотодиодов ИК диапазона
4.7 Выводы
5 Фотоприемники в составе оптикоэлектронных систем
5.1 Крутизна преобразования фотодиодов с кейновской зонной структурой
5.2 Оптическая передаточная функция фотодиодов ИК диапазона с кейновской зонной 8 структурой
5.3 Фотодиоды для гетеродинного детектирования на СОглазере
5.4 Пороговая разность температур оптикоэлектронной системы с фотодиодами на ос 9 нове твердых растворов
5.5 Фотодиоды ИК спектра с охлаждаемыми длинноволновыми фильтрами
5.6 Анализ параметров фотоприемных устройств с фотодиодами на С1НТе
5.7 Иммерсионные фотодиоды ИК диапазона на СсОДТе
5.8 Выводы
6 Характеристики тепловых объектов и применение фотодиодов
6.1 Пространственночастотная характеристика объекта переменной яркости
6.2 Передача контраста переменного по яркости объекта фотодетектором с кольцевыми 2 рлпереходами
6.3 Методы определения теплофизических характеристик материалов
6.4 Многоспекгральная ИК дефектоскопия
6.5 Оптимизация блоков устройства для ИК дефектоскопии
6.6 Выводы
Заключение
Литература
- Київ+380960830922