- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Диагностика источников электронов по двумерным изображениям
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2001
Кількість сторінок:
126
Артикул:
1000334663 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Однослойные углеродные нанотрубки и некоторые композиты на их основе : строение и электронные свойства
- Тонкопленочные сверхпроводниковые структуры из титана для сверхчувствительных криогенных болометров терагерцового диапазона частот
- Математическое моделирование процесса осаждения нитрида кремния из дихлоросилана и аммиака
- Диффузионно-дрейфовая модель графенового полевого транзистора для использования в системах автоматизированного проектирования
- Исследование и разработка сканирующей зондовой микроскопии с проводящими кантилеверами для создания и диагностики наноразмерных структур
- Термически- и радиационно-стойкие контакты металл-карбид кремния для приборов экстремальной электроники
- Электрофизические свойства нанокомпозитов на основе SnO2
- Электронный транспорт в субмикронных и нанометровых диодных и транзисторных структурах
- Перенос электронов в транзисторных структурах в сильных резконеоднородных электрических полях при воздействии потока квантов высоких энергий
- Исследование процессов низкотемпературного плазмостимулированного роста пленок диоксида циркония, стабилизированного иттрием