- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Применение ЯМР томографии для исследования межфазных границ в коллоидных и микрогетерогенных системах
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
2012
Артикул:
324962 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование особенностей электронного строения медьсодержащих халькогенидов методами ЯКР и ЯМР
- Центры люминесценции, образующиеся в структурах Si-SiO2 в результате ионной имплантации и последующего отжига
- Сверхтонкие поля и распределение электронной спиновой плотности в интерметаллических соединениях иттрия с железом
- Закономерности термического и деформационного фазовых переходов порядок-беспорядок в сплавах со сверхструктурами L12 , L12 (M), L12 (MM), D1 a
- Гигагерцовые резонансные акустические эффекты в тонких плёнках ферромагнитных полупроводников и опалов
- Нанокластеры и нанодефекты некоторых ГЦК- металлов: возникновение, структура, свойства
- Физические свойства твердых растворов La2-xCaxNiO4+?
- Исследования магнитных свойств поверхности гексагональных ферритов типа М
- Структура и свойства углеродных и кремниевых алмазоподобных фаз
- Электронные и электрофизические свойства границ раздела металл/диэлектрик : металл=Au, Ni, Al, Fe, Gd, диэлектрик=HfO2, LaAlO3, Al2O3