Численное моделирование рентгеновской дифракции на углеродистых наноструктурных пленках

Оглавление
Введение
1. Расчетнотеоретическая модель и численный код, рассчитывающий рентгеновскую дифракцию на нанообъектах.
1. Физические принципы численного кода, моделирующего рентгеновскую дифракцию на нанообъектах.
2. Приближенный расчет рентгеновской дифракции на наноструктурах из искривленного графена.
3. Реализация кода на центральных процессорах.
4. Реализация кода на графических процессорах с использованием технологии О ЮЛ 3
2. Алгоритм интерпретации результатов рентгеновской дифрактометрии широкого класса углеродных наноструктур в диапазоне размеров 1Ю нм
1. Разработка алгоритма оптимизационной идентификации топологического структурного состава широкого класса углеродных наноструктур в наноматериалах.4.
2. Создание вебсервиса для удаленной автоматизированной обработки рентгеновской дифрактометрии углеродистых наноматериалов
3. Интерпретация рассеяния синхротронного излучения на пленках из токамака Т.
1. Определение топологического наноструктурного состава пленок из токамака Т
2. Оценка эффектов кластеризации наноструктур.
Заключение.1.
Благодарности.
Литература