Оглавление
Оглавление
Список сокращений и обозначений
Введение
1. Обзор существующих методов измерений параметров ЦЭИС
1.1. Задержки в ЦЭИС и их роль в моделировании цифровых схем
1.2. Основные методы измерения задержек ЦЭИС
1.3. Базовые встраиваемые измерительные схемы ЦИС
1.4. Интегральные преобразователи нониусного типа.
1.5. Альтернативные архитектуры ВЦП высокого разрешения.
1.6. Выводы по главе
2. Теорегические основы построения измерительных систем на кристалле
2.1. Прямая и обратная задача теории вероятности
2.2. Попадание равномерно распределенной случайной величины на
заданный интервал.
2.3. Переход от непрерывной к дискретной модели измерительного
процесса
2.4. Анализ модели измерения метода случайной выборки.
2.5. Вычисление длины участка при пуассоновском распределении
случайной величины
2.6. Метод реверсивной случайной выборки путем сокращения длины
неинформативных интервалов
2.7. Выводы по главе
3. Исследование общих вопросов оценки качества и оптимизации процесса измерения.
3.1. Общий критерий достоверности результата измерения
3.2. Частный критерий точности результата измерения.
3.3. Оптимизация по скорости и точности процесса измерения
3.4. Численный метод получения случайной последовательности с нормальным законом распределения.
3.5. Метод накопления фазовой ошибки
3.6. Выводы по главе.
4. Принципы построения встраиваемых измерительных
систем на кристалле
4.1. Аппаратная реализация метода случайной выборки.
4.2. Измерение времени задержки в элементах памяти методом случайной
выборки
4.3. Использование метода случайной выборки для определения критических путей и избыточной функциональности встраиваемых модулей.
4.4. Использование технологического разброса и метода накопления фазовой ошибки для построения случайных генераторов и суперстабильных временных генераторов на кристалле
4.5. Особенности построения и архитектуры встраиваемых тестовых модулей контроля и диагностики интегральных схем.
4.6. Выводы по главе
Заключение.
Список литературы
- Київ+380960830922