Ви є тут

Разработка методологических основ структурно-параметрического моделирования производства изделий радиоэлектроники

Автор: 
Баскин Владимир Анатольевич
Тип роботи: 
диссертация доктора технических наук
Рік: 
2005
Кількість сторінок: 
229
Артикул:
19805
109 грн
Додати в кошик

Вміст

Оглавление
Условные обозначения и сокращения
Введение
Глава 1. Методология проектирования современных КИС.
1.1. Основные понятия и определения проектирования КИС
1.2. Краткий обзор развития массовых ИС.
1.3. Эволюция современные КИС предприятия.
1.4. Недостатки стандартизации и проектирования КИС.
1.5. Выводы по главе 1. Постановка задач исследования.
Глава 2. Разработка и исследование теоретических основ моделирования архитектуры производства ИРЭ
2.1. Проблемы описания ИО СВС и технологий ИРЭ
2.2. Исследование принципов моделирования архитектуры СВС.
2.3. Разработка математической модели описания рабочего места.
2.5. Разработка дерева классификации технологий и ресурсов СВС
2.6. Выводы по главе 2
Глава 3. Разработка и внедрение методологических основ проектирования ИО КИС.
3.1. Методология технологического развития производства ИРЭ.
3.2. Постановка задач математического моделирования ИО КИС
3.3. Разработка методов структуризации и оценивания данных ИО.
3.4. Разработка методов интеграции данных ИО
3.5. Модели и форматы подготовки исходных данных ИО КИС.
3.6. Выводы по главе 3
Глава 4. Разработка и внедрения алгоритмов формирования
архитектуры ИО КИС.
4.1. Общие требования к структуре и функциям ИО КИС предприятия
4.2. Анализ традиционных и предлагаемых методов описания ИО
4.3. Разработка методов спецификации кортежей и портретов ИО КИС.
4.4.Разработка алгоритмов структуризации данных ИО
4.5. Разработка структуры электронного архива ИО КИС
4.6. Выводы по главе 4
Глава 5. Разработка и внедрение методов диагностики
несоответствий объектов контроля
5.1. Недостатки действующих систем анализа и диагностики НОК
5.2. Разработка формальной модели Топерации
5.3. Разработка алгоритма анализа данных о НОК
5.4. Применение ИО мониторинга для решения задач СД НОК.
5.5. Система менеджмента качества и диагностики несоответствий
5.6. Разработка и внедрение программы анализа значимости НОК
5.7. Выводы по главе 5
Глава 6. Разработка и внедрение программнометодического комплекса СПметодологии
6.1. Основные эксплуатационные характеристики программнометодического комплекса.
6.2. Структура данных информационной системы ПМК
6.3. Особенности реализации информационной системы Г1МК.
6.4. Редактирование таблиц данных ПМК.
6.5. Формирование маршрута
6.6. Работа с разделами и подразделами ПМК
6.7. Выводы к главе 6.
Глава 7. Разработка математических и СПмоделей производства
7.1. Основные показатели предприятий и технологий.
7.2. Разработка алгоритмов СПмоделирования технологий
7.3. Пример структурнопараметрического и математического описания технологии.
7.4. Методы спецификации кортежей и параметрических портретов.
7.5. Информационное и организационное взаимодействие РМ.
7.6. Методы верификации портретов и кортежей ИО КИС.
7.7 Форматы сбора данных ИО для поддержки мониторинга,
менеджмента качества и диагностики несоответствий.
7.8. Выводы по главе 7
ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ
Список использованных источников