ВВЕДЕНИЕ.
Актуальность проблемы
Цель работы.
Научная новизна.
Практическая ценность.
Автор защищает.
Достоверность полученных результатов
Апробация работы
Публикации
Структура и объем работы
1. Современное состояние вопроса по исследованию и описанию микроструктуры поверхности твердого тела
1.1. Современные методы исследования микроструктуры поверхности
1.1.1. Сканирующая туннельная микроскопия .
1.1.2. Сканирующая туннельная спектроскопия .
1.1.3. Атомносиловая микроскопия.
1.2. Современная система характеристик для описания поверхности твердого тела
1.2.1. Амплитудные параметры
1.2.2. Функциональные параметры.
1.2.3. Пространственные параметры.
1.2.4. Фрактальные параметры
1.3. Заключение по выбору методов исследования для определения и описания структуры поверхности сорбентов, трековых мембран и пленок
2. Описание оборудования, примененного для исследования поверхности материалов
криогенной и вакуумной техники.
2.1. Сканирующий зондовый микроскоп ТМХ. Ассигех производства компании ТороМе1гис США
2.2. Сканирующий зондовый микроскоп ФемтоСкан производства Центра перспективных технологий МГУ.
2.3. Сканирующий зондовый микроскоп СММ производства ЗАО КПД г. Зеленоград.
2.4. Нанотехнологическая установка Луч2 институт нанотехнологий Международного
фонда конверсии.
2.5. Достоверность результатов, получаемых с помощью сканирующих зондовых
микроскопов
2.6. Выводы по главе 2.
3. Изучение и моделирование структуры криослоев аргона и азота, полученных при различных
условиях.
3.1. Изотермы сорбции Не на криослоях азота и аргона
3.1.1.Экспериментальная установка и методика проведения эксперимента.
3.1.2. Описание основных уравнений изотерм адсорбции.
3.1.3. Описание экспериментальных данных с помощью различных изотерм
3.1.4. Определение характеристик поверхности криослосв азота и аргона с помощью изотерм сорбции
3.2. Моделирование роста криослоя на поверхности с помощью метода пробной частицы
МонтеКарло.
3.2.1. Современные модели построения фрактальных кластеров
3.2.2. Методика моделирования роста крнослоя на поверхности и определения его характеристик в процессе роста
3.2.3. Рост криослоя на гладкой поверхности.
3.2.4. Рост криослоя на шероховатой поверхности.
3.3. Выводы по главе 3
4. Топография поверхности традиционных сорбентов.
4.1. Исследование топографии поверхности активированного угля, подвергнутого
различного рода воздействию.
4.1.1. Анализ профилей поверхности
4.1.2. Анализ шероховатости поверхности.
4.1.3. Анализ пиков и впадин
4.1.4. Фрактальный анализ поверхности.
4.1.5. Площадь поверхности активированного угля.
4.1.6. Кривая покрытия
4.1.7. Анализ критических размеров.
4.1.8. Анализ зерен.
4.1.9. Промежуточные выводы.
4.2. Фрактальный анализ поверхностей различных видов активированных углей и
нераспыляемых геттеров.
4.2.1. Промежуточные выводы
4.3. Выводы по главе 4
5. Другие приложения методов зондовой микроскопии и фрактального анализа для характеристики изменений, происходящих в структуре поверхности при ее модификации.
5.1. Структура поверхности трековых мембран, подвергнутых модификации
тонкопленочными покрытиями.
5.1.1.Методика получения трековых мембран
5.1.2.Определение характеристик поверхности трековых мембран, подвергнутых
различной обработке.
5.1.3.Промежуточные выводы.
5.2. Исследование структуры поверхности наноуглсродных пленок на полимерных подложках, полученных методами осаждения в вакууме.
5.2.1.Промежуточные выводы.
5.3. Исследование качества тонкопленочных покрытий, полученных на установках магнетронного и вакуумного плазменнодугового осаждения .
5.3.1. Промежуточные выводы
5.4. Выводы по главе 5
ЗАКЛЮЧЕНИЕ.
Литература
- Київ+380960830922