Ви є тут

Методы и средства исследования радиационных эффектов в интегральных схемах запоминающих устройств с использованием локального воздействия

Автор: 
Яненко Андрей Викторович
Тип роботи: 
диссертация кандидата технических наук
Рік: 
2009
Кількість сторінок: 
146
Артикул:
30061
179 грн
Додати в кошик

Вміст

Введение
Диссертация направлена на решение важной научнотехнической задачи по оценке,, прогнозированию и обеспечению радиационной стойкости интегральных схем оперативных запоминающих устройств ОЗУ при воздействии ионизирующих излучений ИИ искусственного и естественного происхождений, имеющей существенное значение для построения высоконадежных электронных устройств систем управления военного, космического и другого специального назначения, улучшения.их функциональных и эксплуатационных характеристик.
Актуальность