Ви є тут

Дослідження структури кристалів з великою густиною планарних дефектів методом повнопрофільного аналізу дифрактограм

Автор: 
Бударіна Наталія Миколаївна
Тип роботи: 
Дис. канд. наук
Рік: 
2003
Артикул:
0403U002005
129 грн
Додати в кошик