Ви є тут

Дифракционное изучение планарных дефектов в мартенситных структурах

Автор: 
Ильичев Владимир Леонидович
Тип роботи: 
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік: 
2007
Артикул:
5749
179 грн
Додати в кошик

Вміст

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
Глава 1. Кристаллографическое описание плотноупакованных структур и традиционные методы расчета дифракционных картин кристаллов с планарными дефектами
1.1. Пространственные решетки и системы обозначения плотноупакованных структур
1.2. Обратные решетки плотноупаковашнлх структур
1.3. Классификация планарных дефектов
1.4. Традиционные методы моделирования дифракционных картин кристаллов, содержащих планарные дефекты.
Глава 2. Методы моделирования дифракционных картин кристаллов, содержащих планарные дефекты
2.1. Модель кристалла, учитывающая корреляцию в расположении сдвигов упаковки
2.2. Модель гетерогенных пластинчатых структур Глава 3. Структура мартенситных фаз в сплавах кобальта
3.1. Ранние модели дефектной структуры мартенсита кобальтовых сплавов
3.2. Анализ структуры мартенситных фаз 2Н и К в сплавах СоТа
3.3. Структура 7Т в сплавах СоСи и СоС
3.4. Структуры с аномально большим периодом укладки плотноупакованных слоев в сплавах кобальта
Глава 4. Структура мартенситных фаз в щелочных металлах
4.1. Особенности структурных превращений в литии и натрии
4.2. Кристаллографический анализ мартенситных превращений в
литии и натрии
Глава 5. Дифракционное изучение мартенситных структур, содержащих микродвойники
5.1. Общее выражение для интенсивности дифракции на двойникованной структуре
5.2. Изучение двойникования с мартенсите сплавов 1пТ1
5.3. Двойники в мартенсите сплавов А1
5.4. Двойники в тетрагональном мартенсите железных сплавов и проблема аномально низкой тетрагональности мартенсита
ОСНОВНЫЕ ВЫВОДЫ
Список литературы