Ви є тут

Методы и алгоритмы тестирования памяти ЭВМ с обнаружением кратных функциональных неисправностей

Автор: 
Новиков Алексей Сергеевич
Тип роботи: 
кандидатская
Рік: 
2002
Кількість сторінок: 
133
Артикул:
31076
179 грн
Додати в кошик

Вміст

Содержание
Содержание.
Введение.
1 Функциональное тестирование памяти
2 Маршевый тест для одноразрядной памяти.
2.1 Модель неисправностей одноразрядной памяти
2.2 Маршевый тест для одноразрядной памяти
3 Маршевый тест для многоразрядной памяти
3.1 Модель неисправностей многоразрядной памяти.
3.2 Маршевый тест для многоразрядной памяти.
4 Программная реализация результатов исследований
4.1 Особенности тестирования памяти с учетом кэширования.
Заключение
Список литературы