Ви є тут

Разработка стандартных образцов параметра кристаллической решетки для метрологического обеспечения дифрактометрии

Автор: 

Овчаров Владимир Константинович

Тип роботи: 

кандидатская

Рік: 

2001

Кількість сторінок: 

127

Артикул:

1000329922

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Разработка методов и средств повышения точности частотно-цифровых измерительных устройств на принципах автоматизации процессов измерений
• Методы и средства измерений оптических частот и их применение в эталонах времени, частоты и длины
• Исследование и разработка метрологического обеспечения средств измерений массового расхода жидкости нефтяных скважин
• Измерительный контроль физико-механических параметров конструкционных материалов машин и механизмов
• Разработка и исследование радиационно-конвективного метода и установки эталонного назначения для поверки датчиков теплового потока
• Разработка научно-методических основ метрологической аттестации программного обеспечения средств измерений
• Исследование и планирование эффективных методик многопараметрического контроля и косвенных измерений
• Разработка методов и средств повышения точности градуировки приемников звукового давления в водной среде в условиях свободного поля
• Создание комплекса аппаратуры государственного первичного эталона единицы теплопроводности и системы передачи размера единицы в диапазоне от 0,02 до 0,2 Вт/(м.К)
• Исследование средств градуировки гидрофонов при всероссийских сличениях эталонов звукового давления на инфразвуковых и звуковых частотах