Введение.
Глава 1 Анализ состояния вопроса обеспечения единства координатных
измерений геометрических параметров обработанных поверхностей.
1.1 Значимость измерений линейноугловых величин
1.2 Состояние вопроса координатной метрологии
1.3 Области задач, для решения которых используются координатные
измерения
1.4 Классификация типов задач, решаемых при координатных измерениях по
их конечному результату
1.5 Оценка точности различных задач координатных измерений.
1.6 Анализ существующих способов нормирования пшрсшностей
координатных измерений.
1.7 Выводы
Глава 2 Концепция обеспечения единства координатных измерений геометрических параметров обработанных поверхностей
2.1 Основные характеристики координатных измерений и их определение
2.2 Метрологическое обоснование единства координатных измерений
координат и геометрических параметров на универсальных КИМ.
2.3 Метрологическое обоснование координатных измерений геометрических параметров формы и шероховатости на специализированных координатных средствах
I измерений.
2.4 Метрологическое обеспечение математических моделей и алгоритмов координатных измерений геометрических параметров обработанных поверхностей
2.5 Выводы и основные положения концепции обеспечения единства координатных измерений геометрических параметров
Глава 3 Разработка теоретических основ координатных измерений
геометрических параметров обработанных поверхностей на КИМ.
3.1 Обобщенная математическая модель процедуры координатных измерений
на КИМ и анализ се компонентов.
3.1.1 Блоксхема процедуры координатных измерений.
3.1.2 Анализ источников и составляющих погрешностей координатных измерений
3.2 Разработка и исследование математических моделей элементов щуповой системы .
3.2.1 Классификация щуповых систем КИМ
3.3 Разработка математической модели механической реализации системы
ф координат КИМ
3.4 Погрешности измерения на КИМ координат и геометрических параметров
наиболее распространенных геометрических элементов, используемых в деталях машин и приборов
3.5 Вывод аналитических зависимостей для оценки геометрических параметров средней номинально плоской поверхности и погрешностей их определения.
3.6 Вывод аналитических зависимостей погрешностей измерений геометрических параметров цилиндрических поверхностей от погрешности системы координат КИМ
3.7 Расчет погрешностей измерений отклонений формы профиля эвольвентной
поверхности.
3.8 Исследование влияния температурной погрешности на результаты измерений на КИМ.
3.9 Методы и алгоритмы компенсации систематических составляющих погрешностей, а также оценки случайной и неисключенной систематической составляющих погрешностей измерений параметров на КИМ
3. Основные результаты и выводы
Глава 4 Исследование и разработка теоретических основ координатных
измерений геометрических параметров обработанных поверхностей на специализированных координатных средствах измерений.
4.1 Научнометодические основы координатных интерференционных измерений параметров формы прецизионных оптических поверхностей и оценки их погрешностей.
4.1.1 Анализ взаимодействия волновых фронтов, формируемых оптическими поверхностями при интерференции различного типа.
4.1.2 Исследование погрешностей методов интерференционного измерения
формы поверхности.
4.1.3 Выводы и основные результаты к разделу 4.1
4.2 Разработка теоретических основ координатных методов количественной
оценки микрогеометрии поверхности и ее параметров
4.2.1 Сравнение топографической и профильной оценок параметров
шероховатости поверхности
4.2.2 Разработка обобщенной методики топографических дискретных измерений параметров шероховатости поверхности
4.2.2.1 Разработка координатных дискретных методов выделения фильтрации
Ф шероховатости из общей совокупности неровностей поверхности.
4.2.2.2 Разработка методик топографических дискретных методов измерения
параметров нерегулярной шероховатости
4.2.2.3 Разработка и исследование дискретных методов получения априорной информации о поверхности
4.2.3 Выводы к разделу 4.2
Глава 5 Исследование и разработка методов и средств метрологического обеспечения координатных измерений геометрических параметров обработанных поверхностей.
5.1 Исследование и разработка методов и средств испытаний и поверки
координатных средств измерений, работающих в декартовой системе координат
5.1.1 Разработка шариковой пространственной меры ШПМ
5.1.2 Разработка устройства с концевыми мерами длины УКМД.
5.1.3 Разработка плиты с цилиндрическими отверстиями для калибровки КИМ
5.1.4 Разработка методов калибровки рабочего пространства КИМ и оценки ее погрешностей
5.2 Метрологические обоснование применения мер для поверки координатных средств измерений1.
5.2.1 Расчет погрешности измерений параметров ЕРЕ меры отклонений от
плоскостности
5.2.2 Разработка параметрических мер для поэлементной и комплексной
поверки координатных средств измерений в режиме измерений геометрических параметров обработанных поверхностей
5.3. Разработка алгоритмов тестирования программного обеспечения автоматизированных КСИ геометрических параметров обработанных поверхностей
5.4 Основные результаты и выводы
Глава 6 Разработка эталонов в области координатных измерений
геометрических параметров обработанных поверхностей
6.1. Обеспечение единства измерений в области эвольиентометрии
6.2. Разработка методологии исходных поточности интерференционных измерений отклонений формы прецизионных оптических поверхностей
6.2.1. Разработка метрологического обеспечения фотоэлектрических методов измерений отклонения формы прецизионных оптических поверхностей
6.2.2. Применение интерферометров Физо со ртутным зеркалом в качестве
У ВТ для измерения отклонений от плоскостности оптических поверхностей.
6.3 Разработка автоматизированной системы измерений
Ф микротопографических параметров и анализ ее метрологических характеристик
6.4 Выводы.
Глава 7 Исследование и разработка нормативнометодической базы обеспечения единства координатных измерений геометрических параметров обработанных поверхностей
7.1 Разработка нормативных основ проведения испытаний и поверки КИМ
7.1.1 Аттестация погрешности измерительной системы КИМ с помощью
лазерного интерферометра.
7.1.2 Погрешность измерений вращения при перемещении вдоль оси КИМ в плоскости, перпендикулярной оси перемещения, с помощью поверочной линейки и
измерительной головки
7.1.3 Погрешность измерений вращения при перемещении вдоль оси КИМ в плоскости, перпендикулярной этой оси, с помощью электронного уровня.
7.1.4 Определение погрешности измерений непрямолинейности перемещения
вдоль осей КИМ с помощью ЛИС
7.2 Разработка методики поверки КСИ параметров зубчатых колес.
7.3 Разработка проекта межгосударственного стандарта на методику поверки рабочих эталонов для измерения угла наклона линии зуба
7.4 Разработка проекта межгосударственного стандарта на Государственную
ф поверочную схему для передачи размера единиц длины эвольвенты и угла наклона
линии зуба.
7.5 Разработка поверочной схемы для средств интерференционных измерений отклонения от плоскостности.
7.6 Разработка нормативных основ испытаний и поверки интерференционных средств измерений отклонения от плоскостности и сферичности.
7.7 Исследование состояния нормативных основ обеспечения единства трех координатных измерений параметров шероховатости и субмикрошероховатости поверхности
7.8 Основные результаты и выводы
Глава 8 Апробация и реализация разработанных методов и средств
обеспечения единства координатных измерений геометрических параметров обработанных поверхностей
8.1 Исследование метрологических характеристик КИМ
8.2 Проведение международных ключевых сличений 6 по результатам
Ф измерений на КИМ.
ф 8.3 Оценка неопределенности измерений длины на координатно
измерительной машине 0 при проведении международных ключевых сличений 6 под руководством международного бюро мер и весов МБМВ
8.4 Круговые сличения с эталонами Германии и Украины
8.5 Экспериментальные исследования методов и средств метрологического обслуживания координатных средств измерений
8.5.1 Проведение испытаний макета шариковой пространственной меры для оперативного контроля стабильности метрологического состояния координатных средств измерений
8.5.2 Проведение испытаний УКМД для определения пространственной
Ф погрешности КИМ
8.6 Исследование мер плоскостности для поверки и калибровки интерферометров Физо.
8.7 Исследование калибровочных возможностей наноструктур для
обеспечения единства измерений геометрических параметров поверхностей нанометрового диапазона.
8.8 Измерения геометрических поверхностей сложной формы на базе разработанной методологии координатных измерений для нужд промышленности
8.8.1 Методология измерений формы поверхности макетов космических ф летательных аппаратов типа Буран и макета поверхности 2й ступени
ф ракетоносителя.
8.8.2 Исследование асферической поверхности шестиметрового зеркала
астрономического телескопа БТА.
8.9. Основные результаты и выводы.
Заключение
Список использованных источников
- Київ+380960830922