- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2010
Кількість сторінок:
238
Артикул:
243063 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Разработка, создание и внедрение в метрологическую практику России и стран СНГ государственного первичного эталона шкалы рН нового поколения
- Метрологическое обеспечение производства стандартных образцов состава газовых смесей
- Обеспечение метрологической надежности многоканальных измерительных систем сложных технологических процессов
- Методы и средства обеспечения единства измерений хроматической дисперсии в оптическом волокне
- Разработка системы обеспечения единства измерений геометрических параметров эвольвентных зубчатых зацеплений
- Метрологическое обеспечение приборов для измерения артериального давления и частоты сердечных сокращений
- Методы и средства обеспечения единства измерений поляризационной модовой дисперсии в оптическом волокне
- Разработка цифрового метода совпадений для прецизионных измерений активности радионуклидов
- Исследование и планирование эффективных методик многопараметрического контроля и косвенных измерений
- Высокоточные калориметрические измерительные преобразователи и системы в энергетической лазерометрии