- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2010
Кількість сторінок:
238
Артикул:
243063 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Разработка и исследование мер толщины покрытий для поверки магнитных толщиномеров
- Разработка алгоритмического и программного обеспечения адаптивной методики расчёта достоверности результатов поверки средств измерений
- Разработка методов и средств метрологического обеспечения гидроакустических измерений в диапазоне частот от 0,5 до 15 МГц
- Разработка и исследование радиационно-конвективного метода и установки эталонного назначения для поверки датчиков теплового потока
- Измерительный контроль физико-механических параметров конструкционных материалов машин и механизмов
- Современные методы и средства прецизионной фотометрии
- Высокоточные калориметрические измерительные преобразователи и системы в энергетической лазерометрии
- Разработка и исследование модели индикаторов веса и её метрологического обеспечения для применения в отраслях нефтегазовой промышленности
- Разработка и исследование методов оценивания результатов измерений в новых метрологических задачах
- Методы и средства измерений оптических частот и их применение в эталонах времени, частоты и длины