- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Развитие и применение методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования свойств точечных контактов
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2001
Кількість сторінок:
111
Артикул:
1000315510 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Атомное и электронное строение графеновых нанолент и графановых наночастиц при механическом сжатии
- Лазерное напыление и исследование пленок высокотемпературного сверхпроводника YBa2 Cu3 O7- δ для применений в пассивных высокочастотных устройствах
- Компьютерное моделирование физических эффектов в кремниевых силовых диодах Шоттки
- Тепловой удар в системах металлизации на кремнии при импульсных токовых воздействиях
- Тонкопленочные сверхпроводниковые структуры из титана для сверхчувствительных криогенных болометров терагерцового диапазона частот
- Композитные тонкопленочные сегнетоэлектрические структуры на основе цирконата-титаната свинца и титаната бария
- Теоретический анализ и экспериментальное исследование функционирования сверхвысокочастотных интегральных схем на арсениде галлия при воздействии радиационных и электромагнитных излучений
- Неравновесные эффекты в динамике джозефсоновских структур
- Теплофизические свойства микросистем на основе структур карбид кремния на изоляторе
- Кинетика химической стадии ионно-лучевой модификации кремния и оптические мезоскопические эффекты в ионно-модифицированных структурах