Ви є тут

Развитие и применение методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования свойств точечных контактов

Автор: 

Дремов Вячеслав Всеволодович

Тип роботи: 

кандидатская

Рік: 

2001

Кількість сторінок: 

111

Артикул:

1000315510

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Физико-технологические основы создания функциональных элементов наноэлектроники на основе квазиодномерных проводников
• Разработка технологии КМОП ИС на структурах КНД
• Разработка и исследование газового сенсора на основе тонкопленочных материалов состава SiO2SnOxAgOy
• Электрооптические свойства жидкокристаллических ячеек с повышенной крутизной вольт-контрастной характеристики
• Разработка методов проектирования элементов МОЭМС, изготавливаемых по технологии поверхностной микрообработки
• Спектроскопия возбужденных электронных состояний в квантово-размерных гетероструктурах InGaAs/GaAs
• Композитные тонкопленочные сегнетоэлектрические структуры на основе цирконата-титаната свинца и титаната бария
• Молекулярно-лучевая эпитаксия низкоразмерных систем на основе гетероструктурных и δ-легированных квантовых ям на подложках GaAs различной ориентации
• Баллистические планарные структуры из монокристаллического вольфрама
• Методы получения и характеристики полиимид - кремниевых микроактюаторов и устройств микромеханики на их основе