- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Развитие и применение методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования свойств точечных контактов
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2001
Кількість сторінок:
111
Артикул:
1000315510 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Стимулированное излучение донорами V-группы в деформированном кремнии
- Оксиды переходных металлов и управляемые туннельные переходы на их основе для создания устройств микро- и наноэлектроники
- Электрофизические свойства и природа локализованных состояний в гетеропереходах на основе a-Si: H и его сплавов
- Кольцевые вихри в ограниченных сверхпроводниках
- Свойства многослойных затворных структур МОП нанотранзисторов, на основе силицидов и диэлектриков с высоким ?, полученных методами магнетронного распыления и электронно-лучевого испарения
- Разработка методов проектирования элементов МОЭМС, изготавливаемых по технологии поверхностной микрообработки
- Разработка СБИС квантового пиксельного координатного детектора радиационных частиц на основе функционально-интегрированных биполярных структур
- Разработка и исследование толстопленочных и монолитных термочувствительных конденсаторов на основе Ba(Ti1-x Zr x )O3
- Спектроскопия возбужденных электронных состояний в квантово-размерных гетероструктурах InGaAs/GaAs
- Исследования и разработка гибридных интегральных микросхем для малошумящих входных устройств и охлаждаемых МШУ КВЧ диапазона