- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Рентгенодифрактометрическое исследование деформаций гетероструктур кубической и гексагональной систем
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2002
Кількість сторінок:
133
Артикул:
233153 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Разработка технологических основ электронно-лучевого формирования поверхности монокристаллических подложек SiC для создания микро- и наноструктур
- Математическая модель мощных СВЧ полевых транзисторов для систем автоматизированного проектирования электронных устройств в многочастотных режимах
- Совершенствование моделей и оптимизация конструкций гибридных узкополосных транзисторных усилителей коротковолновой части сантиметрового диапазона длин волн
- Разработка схемотехнических методов построения ИМС с улучшенными технико-экономическими показателями для систем радиотелекоммуникации
- Разработка и исследование технологии получения лейкосапфира для электронной техники
- Исследование хемосорбционного взаимодействия при формировании приповерхностных легированных слоев в полупроводниках и пленок на их поверхности в технологических процессах диффузии и осаждения
- Субмиллиметровая спектроскопия носителей заряда в напряженных гетероструктурах Ge/GeSi
- Исследование процессов травления диоксида кремния, кремния, полимерных пленок в химически активной плотной плазме ВЧ индукционного разряда низкого давления
- Физические свойства и механизмы формирования низкоразмерных кремниевых структур во фторсодержащих средах
- Импедансные свойства и характеристики варакторных полупроводниковых структур