- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Рентгенодифрактометрическое исследование деформаций гетероструктур кубической и гексагональной систем
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2002
Кількість сторінок:
133
Артикул:
233153 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Разработка и исследование управляемых выпрямителей на основе биполярных статических индукционных транзисторов
- Морфология и оптические свойства самоформирующихся островков GeSi/Si(001), выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии в среде GeH4
- Конструкции и технология СВЧ GaN транзисторов X-диапазона для систем радиолокации
- Атомная структура и электронно-энергетические характеристики углеродных нанотрубок сложной формы
- Влияние стехиометрии оптически прозрачных проводящих пленок оксидов индия и олова на их электрофизические и оптические свойства
- Брэгговская дифракция рентгеновского излучения на кристаллах, промодулированных поверхностными акустическими волнами
- Модификация процесса монтажа проволочных и ленточных выводов к кристаллам силовых полупроводниковых приборов
- Проектирование структуры межсоединений программируемых логических интегральных схем
- Структура и электронные характеристики пиролизованного полиакрилонитрила
- Физико-технологическое моделирование ионно-легированных МОП-транзисторных структур