Ви є тут

Холоэллипсометрия in situ слоистых структур: основы, методы и средства

Автор: 

Кирьянов Анатолий Павлович

Тип роботи: 

основы, методы и средства

Рік: 

2007

Кількість сторінок: 

250

Артикул:

7645

179 грн

Додати в кошик

Рекомендовані дисертації

• Измерение низкой альфа-активности материалов микроэлектроники : методика и оборудование
• Разработка и создание рентгеновского, протонного и позитронного томографов для клинико-физического комплекса Лаборатории ядерных проблем ОИЯИ
• Ионно-индуцированные процессы и методы исследования поверхностного слоя металлов и углеграфитовых материалов при высокодозном облучении
• Исследование методов построения гибридных волоконно-оптических измерительных систем
• Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости и магнитных наноструктур
• Разработка метода и комплекса экспресс регистрации дисперсного состава потока распыленной жидкости
• Деконволюция изображений, искаженных влиянием аппаратной функции
• ЯМР исследования водных и спиртовых растворов неорганических солей
• Восстановление характеристик стратосферного озонового слоя по экспериментальным данным
• Адаптивная система управления процессами роста кристаллов для методов Степанова и Чохральского