Разработка средств автоматизации проектирования сложных функциональных блоков микроэлектроники с учетом воздействия отдельных ядерных частиц

СОДЕРЖАНИЕ
Введение
1. Анализ средств автоматизированного проектирования сложных функциональных блоков микроэлектроники и их возможности по
учету одиночных событий радиационного воздействия.
1.1. Современное состояние и развитие микрокомнонентной
базы дойного назначения.
1.2. Физические явления в полупроводниковых структурах сложных функциональных блоков микроэлектроники при воздействии отдельных ядерных частиц.
1.3. Развитие средств моделирования одиночных событий
радиационного воздействия. Постановка задачи.
Выводы.
2. Методика проектирования и математическое обеспечение моделирования одиночных событий радиационного воздействия на схемотехническом уровне проектирования.
2.1. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы двойного назначения с учетом одиночных событий
радиационного воздействия
2.2. Методы определения стойкости СБИС в процессе
проектирования.
2.3. Моделирование одиночных событий радиационного
воздействия в КМОП структурах
Выводы.
3. Моделирование одиночных событий радиационного воздействия на функциональнологическом уровне и алгоритмическая основа проектирования радиационностойких КМОП типовых элементов
3.1. Моделирование одиночных событий радиационного
воздействия на схемотехническом уровне.
3.2. Моделирование одиночных событий радиационного воздействия на функциональнологическом.
3.3. Алгоритмическая основа оценки стойкости типовых СБИС к
одиночным событиям в процессе проектирования
4. Результаты внедрения и оценка эффективности программных
средств
4.1. Особенности разработанного программного обеспечения и
его внедрение в САПР сквозного проектирования.
4.2. Оценка адекватности и эффективности разработанных
средств
4.3. Внедрение предложенных средств и создание радиационностойкой библиотеки КМОП микросхем
4.4. Разработка средств повышения радиационной стойкости и
создание радиационностойких СБИС
Заключение
Литература