- Киев+380960830922
Вы здесь
Введите ключевые слова для поиска диссертаций:
Селективность редоксметрических измерений как основа иодометрического анализа
Тип работы:
кандидатская
Год:
2002
Количество страниц:
150
Артикул:
183121 179 грн
Рекомендуемые диссертации
- Исследование кристаллических алюмогидридов методом ЯМР-спектроскопии
- Развитие и применение методов моделирования рентгеновских дифракционных картин для структурной диагностики порошковых наноматериалов
- Механизм взаимодействия в системе оксид кадмия- оксид сурьмы (III) - концентрированный раствор щелочи
- Физико-химические аспекты и компьютерное моделирование формирования нанослоевых структур выпрямляющих контактов Ga(As/P)-Ga(S/Se)-Ni
- Исследование электронного строения хелатных комплексов 3d-, 4d-переходных металлов методами рентгеновской спектроскопии
- Изучение внутримолекулярных взаимодействий в некоторых органических производных элементов VI группы методом УФ-спектроскопии комплексов с переносом заряда и ион-радикальных солей
- Физико-химические закономерности разделения компонентов ненаркотических анальгетиков в условиях обращенно-фазовой высокоэффективной жидкостной хроматографии
- Физические и химические процессы взаимодействия кислотных растворов с горной породой низкопродуктивных залежей нефти
- Научные основы синтеза высоконаполненных композиционных неорганических сорбентов
- Полевая десорбция с поверхности ионных кристаллов