Ви є тут

Рентгенографический анализ кристаллических структур и их несовершенств при неразрешающихся дифракционных мультиплетах

Автор: 

Ткачев Сергей Петрович

Тип роботи: 

Докторская

Рік: 

1997

Артикул:

1000200173

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Структура и физические свойства пористых пленок, заполненных нематическим жидким кристаллом
• Структура и свойства ультрамикрокристаллических и нанокристаллических алюминиевых сплавов, полученных при экстремальных воздействиях
• Коррелированность микроразрушений при деформировании однонаправленных композитов
• Экситонная спектроскопия полупроводниковых квантовых ям и сверхрешеток
• Исследование кинетики трещин в элементах энергетических установок при ползучести
• Динамика оптических возбуждений в низкоразмерных полупроводниковых гетероструктурах AIIIBV
• Моделирование формы белков шаперонинов в растворе по решению прямой и обратной задачи малоуглового рассеяния с использованием формфактора тора
• Структура и свойства нанокомпозитов на основе поли-п-ксилилена, поли-п-фениленвинилена, полученных полимеризацией из газовой фазы
• Электронно-ионные процессы в поликристаллических и аморфных оксидных материалах
• Электронные и электрофизические свойства границ раздела металл/диэлектрик