Ви є тут

Методы и средства стабилизации оптических параметров криотелескопов космического базирования и наземных имитационно-испытательных комплексов

Автор: 
Олейников Леонид Шлемович
Тип роботи: 
Дис. д-ра техн. наук
Рік: 
2004
Артикул:
19567
179 грн
Додати в кошик

Вміст

ВВЕДЕНИЕ
Глава 1. Граничные условия эффективности криогенных методов понижения
внуфШфиборного фона в инфракрасных телескопах космического
базирования и наземных имитационноиспытательных комплексах
1.1. Анализ известных методов понижения внутриприборного фона в ИК телескопах и их устройства для астрофизических исследований и регистрации ИК источников в пространстве космического неба
1.2. Анализ методов понижения внутриприборного фона в известных ИК телескопах космического базирования для дистанционного зондирования Земли
1.3. Дестабилизирующие процессы, сопутствующие понижению внутриприборного фона в криооптических ИК оптикоэлектронных систем
1.4. Особенности методов понижения внутриприборного фона в инфракрасных системах известных имитационноиспытательных комплексов
1.5. Постановка задач исследований
Выводы
Глава 2. Термомеханические и релаксационные процессы в оптических системах в
переходных и установившихся режимах глубокого охлаждения и отогрева
2.1. Особенности термомеханических процессов в криооптике
2.2. Термомеханические и релаксационные процессы в криооптических системах
2.2.1. Основные концепции построения моделей термомеханических и релаксационных процессов в криооптических системах
2.2.2. Исследование напряжений и перемещений в механически и термически нагруженных элементах криооптики
2.3. Отработка метода и экспериментальных средств исследования релаксационных процессов в криооптических системах с использованием
сдвиговой интерферометрии
2.4. Термомеханические колебания приемного зеркала криообъектява, обусловленные взаимодействием с набегающим потоком частиц разреженной атмосферы
2.5. Проблемы оптимизации точностных и термических характеристик криооптических оптикоэлектронных систем на основе разнородных материалов в конструкции объективов
Глава 3. Пороговые характеристики кинетических процессов в криооптических
оптикоэлектронных системах
3.1. Разработка требований к методам и аппаратуре для исследований свойств оптических поверхностей со слоями конденсатов с учетом анализа известных в этой области работ
3.2. Методы, средства и результаты экспериментальных исследований температурных зависимостей физических свойств криоконденсатов газов и системы конденсатзеркало
3.3. Теоретическое и экспериментальное определение распределения плотности молекулярных потоков в бленде глубокоохлаждаемого телескопа
3.4. Модель условий сохраняемости качества оптической поверхности в процессе конденсации на ней частил остаточной атмосферы
3.5. Метод и средства исследования температурной зависимости индикатрис рассеяния двунаправленного отражения поверхности с криоконденсатом из частиц окружающей атмосферы
3.6. Методы эффективного сдерживания криозагрязнений оптики и восстановление ее первичных оптических констант
Выводы
Глава 4. Принципы построения низкофоновых ИК телескопов космического
базирования на основе моделирования криооптических систем с кондуктивнорадиационным и конвективным теплоотводом
4.1. Результаты исследований схемотехнических решений и энергоресурсных параметров глубокоохлаждаемых ИК телескопов кратковременного и длительного орбитального базирования
4.1.1. Методы проектирования низкотемпературных фокальных узлов телескопов на основе сублимационных охладителей с фильтровым и внсапертурным ограничением фона
4.1.2. Методы выравнивания температурного поля в оптике криотелескопов
4.1.3. Математическое моделирование переходных и установившихся тепловых режимов глубокоохлаждаемых телескопов с
кондуктивными и конвективными средствами теплоотвода
4.1.4. Криотелсскоп ИКОН оптимизация фоновых температурных и энергетических характеристик
4.1.5. Криообъектив Асфар в составе радиационноохлаждаемого телескопа ГРОТ
4.1.6. Методы разработки оптикоэлектронных систем телескопов с теплоинерционным криостатированисм
4.1.7. Методы снижения энергоемкости системы глубокого охлаждения криотслсскопов низкоорбитального базирования
4.2. Результаты моделирования сохраняемости качества криооптических систем и их элементов в переходных и послепсрсходных режимах
охлаждения и в условиях переменных по знаку тепловых нагрузок
4.2.1. Устойчивость плоскости наилучшего изображения в криотелескопе на основе однородного теплопроводного материала
4.2.2. Устойчивость плоскости наилучшего изображения криотелескопа, выполненного на основе разнородных материалов
4.3. Сохраняемость качества изображения криооптической системы телескопов для дистанционного зондирования Земли в условиях конденсации частиц собственной внешней атмосферы
Выводы
Глава 5. Низкофоновые методы и средства имитации у слабых тепловых сигналов в
испытательных комплексах для контроля параметров криооптических оптикоэлектронных систем ИК телескопов и их функциональных блоков
5.1. Физические особенности методов имитации и выделения слабых потоков ИК излучения в наземных условиях
5.1.1. Методы выявления несоответствия радиационной и термодинамической температур при имитации теплового фона
5.1.2. Способы повышения метрологической точности измерений имитируемых слабых потоков ИК излучения
5.1.3. Выбор и оптимизация светоэнергетических характеристик
криооптических ИК радиометров на основе компараторных схем
5.2. Методы и глубокоохлаждаемая аппаратура для исследований физических свойств материалов, необходимых при обосновании решений построения низкофоновых оптикоэлектронных систем и имитационноиспытательных комплексов
5.2.1. Универсальный источник слабых ИК сигналов на основе криомонохроматора
5.2.2. Высокочувствительный низкофоновый ИК радиометр на основе компараторной схемы контроля облученности входного зрачка глубокоохлаждаемых оптикоэлектронных систем
5.2.3. Метод и средства спектральной диагностики слабых потоков ИК излучения в интервале спектра 2 мкм
5.2.4. Методы и аппаратура для исследований низкотемпературной зависимости оптических свойств поверхностей и сред и теплофизических характеристик материалов для криооптических систем
5.2.4.1. Метод и аппаратура для обеспечения адиабатического состояния исследуемых образцов в области криогенных температур в вакууме
5.2.4.2. Высокочувствительные методы и аппаратура для исследования коэффициентов излучения низкотемпературных поверхностей и тел
5.2.5. Высокочувствительная аппаратура для контроля тепловых параметров отдельных узлов низкофоновых криооптических оптикоэлектронных систем
5.3. Принципы построения новых имитационнояспьггательных средств контроля радиометрических, спектральных и пространственных характеристик глубокоохлаждаемых оптикоэлектронных систем
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Литература