Диагностические методы оценки надежности интегральных схем с использованием шумовых параметров

Содержание
Общая характеристика работы .
Глава 1. СОБСТВЕННЫЕ ШУМЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ.
1.1. Виды шумов
1.2. Физические модели возникновения низкочастотных шумов
1.3. Шумы полупроводниковых изделий
1.3.1. Шумы интегральных резисторов
1.3.2. Шумы интегральных диодов
1.3.3. Шумы биполярных транзисторов
1.3.4. Шумы МДП транзисторов.
1.3.5. Влияние конструктивнотехнологических факторов на уровень НЧ шума.
1.3.6. Влияние внешних дестабилизирующих факторов на значение НЧ шума ИС.
1.4. Возможности НЧ шума как прогнозирующего параметра
надежности полупроводниковых изделий.
Выводы к главе 1
Глава 2. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НИЗКОЧАСТОТНОГО ШУМА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИИ И ИХ РЕАЛИЗАЦИЯ
2.1. Установка для измерения низкочастотного шума
2.2. Устройство для измерения коэффициента у.
2.3. Устройство для разбраковки полупроводниковых изделий по ампер шумовым характеристикам
2.4. Установка для имитации воздействия электростатических разрядов
Выводы к главе 2
Глава 3. СПОСОБЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПО ПАРАМЕТРАМ НИЗКОЧАСТОТНОГО
3.1. Разделение аналоговых ИС по надежности с использованием
НЧ шума.
3.2 . Разделение цифровых ИС по надежности с использованием
НЧ шума.
3.3. Разделение ИС по надежности с использованием НЧ шума и
термоциклирования
3.4. Использование коэффициента а для диагностики ППИ
Выводы к главе 3
Глава 4. ДИАГНОСТИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ НАДЕЖНОСТИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ШУМОВ И ВОЗДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИХ РАЗРЯДОВ .
4.1. Разделение аналоговых ИС по надежности с использованием
НЧ шума и ЭСР.
4.2. Разделение цифровых ИС по надежности с использованием
НЧ шума и ЭСР.
Выводы к главе 4.
ОСНОВНЫЕ ВЫВОДЫ И РЕЗУЛЬТАТЫ.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ