Ви є тут

Методы и средства оценки и прогнозирования сбоеустойчивости аналоговых интегральных микросхем при воздействии отдельных ядерных частиц

Автор: 
Криницкий Александр Васильевич
Тип роботи: 
Кандидатская
Рік: 
2012
Артикул:
336485
179 грн
Додати в кошик