Вы здесь

Методы и средства оценки и прогнозирования сбоеустойчивости аналоговых интегральных микросхем при воздействии отдельных ядерных частиц

Автор: 
Криницкий Александр Васильевич
Тип работы: 
Кандидатская
Год: 
2012
Артикул:
336485
179 грн
Добавить в корзину