Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне

Введение
Глава 1. Голографические методы исследования структуры объектов
1.1. Анализ современного состояния в области исследования структур объектов голографическим методом
1.2. Низкоэнергетический электронный микроскоп. Метод получения голографических изображений объектов
1.2.1. Безлинзовый низкоэнергетический проекционный электронный микроскоп
1.2.2. Модель Финка
1.2.3. Модель Р. Морина
1.3. Математическое описание движения электронов в низкоэнергетическом электронном микроскопе
1.4. Алгоритмическое и программное обеспечение реконструкции голографических изображений
1.4.1. Требования к программному обеспечению
1.4.2.Программное обеспечение обработки изображений
1.5. Выводы
Глава 2. Информационноэкспертная система получения и обработки
голографической информации.
2.1. Комплекс информационноэкспертной системы для получения и обработки голографической информации.
2.2. Инструментальный модуль информационноэкспертной системы
2.2.1. Исследование атомной структуры тонких металлических пленок
2.2.2. Технические средства экспериментальной установки
2.3. Система обработки и хранения визуализированной информации
2.4. Задачи разработки программного обеспечения
Глава 3. Численный метод реконструкции голографических изображений тонких металлических пленок
3.1. Математическое описание образования голографического изображения объекта исследования в вакуумной установке
3.2. Модель голографического изображения объекта исследования
3.3. Оценка информативности голографических изображений объекта исследования
3.4. Выводы
Глава 4. Информационное обеспечение и программная поддержка анализа и обработки голографической информации
4.1. Структура информационноэкспертной системы
4.2. Программное обеспечение информационного модуля
4.3. Предварительная обработка визуализированной информации
4.4. Алгоритм реконструкции структуры исследуемого образца по голографическим изображениям
4.5. Тестирование информационноэкспертной системы для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок по голографическим изображениям
4.5.1. Тестирование инструментального модуля
4.5.2. Аппаратные ресурсы вычислительной системы
4.5.3. Интерфейс программного обеспечения для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок
4.5.4. Тестирование программного обеспечения получения и обработки голографической информации
Заключение
Литература