- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Снижение пределов обнаружения примесей при искровом масс-спектрометрическом анализе материалов электронной техники
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
1984
Артикул:
453715 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Способ нормируемых отношений и светосильные детекторы в рентгенофлуоресцентном анализе сталей и сплавов
- Изомерноспецифический анализ и детоксикация полихлорированных дибензо-n-диоксинов и дибензофуранов в условиях субкритической экстракции
- Концентрирование хрома(III), хрома(VI) и фосфора(V) полимерными сорбентами и их определение в абиотических и биологических объектах
- Спектроскопическое определение несимметричного диметилгидразина в объектах окружающей среды
- Электрокатализ и амперометрическое детектирование серосодержащих соединений на модифицированных электродах
- Методы декомпозиции спектральных кривых в анализе смесей сложного состава
- Люминесценция боратно-висмутатных стекол, содержащих оксиды редкоземельных элементов, и ее использование в целях анализа
- Физико-химическое исследование и анализ иодогалогенидов азот-, фосфорсодержащих органических катионов
- Рентгенофлуоресцентный анализ железорудных смесей непосредственно в технологическом потоке
- Разработка микрометодов анализа аминокислот, коротких пептидов и олигонуклеотидов с использованием ОФ ВЭЖХ и капиллярного электрофореза