- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Снижение пределов обнаружения примесей при искровом масс-спектрометрическом анализе материалов электронной техники
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
1984
Артикул:
453715 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Комбинированный метод анализа поверхности на принципах малоугловой мессбауэровской и рентгеновской спектроскопии
- Новые аспекты применения нативной и иммобилизованной пероксидазы хрена для определения ее ингибиторов и субстратов
- Модифицирование поверхности кварцевых капилляров при электрофоретическом разделении анионов
- Физико-химические основы разработки и аналитическое применение твердоконтактных потенциометрических сенсоров, селективных к поверхностно-активным веществам
- Микроволновое излучение в химии солянокислых растворов рутения и его использование для решения химико-аналитических задач
- Организованные системы на основе β-циклодекстринов в растворах, на поверхности и их аналитическое применение
- Вольтамперометрия фенола и его производных на модифицированных сорбентами угольно-пастовых электродах
- Инверсионно-вольтамперометрическое определение ртути в объектах окружающей среды на модифицированных металлами углеродных электродах
- Неорганические оксиды, модифицированные органическими реагентами, для концентрирования и разделения ионов элементов и органических соединений
- Исследование правильности результатов определений малых содержаний компонентов и разработка методов ее повышения