Ви є тут

Оптическая спектроскопия поверхности и внутренних границ раздела эпитаксиальных структур на основе соединений A3 B5

Автор: 

Альперович Виталий Львович

Тип роботи: 

Докторская

Рік: 

1998

Артикул:

1000207329

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Моделирование роста полупроводниковых наноструктур A3B5 методами теории нуклеации
• Исследование электрофизических свойств фоторезисторов на основе PbS
• Взаимодействие вакуумного ультрафиолетового излучения с тонкими неорганическими пленками
• Исследование фотодиодных структур на основе фосфида галлия и твердых растворов A III B V для селективных фотоприемников
• Элементарные процессы при электронном возбуждении кристаллофосфоров диссоциированными газами
• Двухволновая модуляционная спектроскопия неравновесных электронов в полупроводниковых структурах
• Создание газовых сенсоров на основе тонких пленок диоксида олова
• Радиационные дефекты в бинарных (InP, GaP) и тройных (CdSnP2, ZnGeP2) полупроводниковых фосфидах
• Новые аллотропные формы кремния : Получение и свойства
• Низкоразмерные плазменные возбуждения в полупроводниковых туннельных структурах