Ви є тут

Интерпретация данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии тонких пленок с применением глобальной минимизации

Автор: 

Самойленко Иван Иванович

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

1999

Артикул:

1000221282

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Влияние рельефа подложек лейкосапфира на процессы роста эпитаксиальных пленок теллурида кадмия и частиц золота
• Жидкофазная эпитаксия ниобата лития
• Механизм ингибирования уридинфосфорилазы из Salmonella typhimurium (stuph) и homo sapiens (huphi) 2,2`-ангидроуридином по результатам рентгеноструктурного анализа и компьютерного моделирования
• Ударно-метаморфизированный кварц горных пород астроблем Украинского щита
• Устойчивость системы кристалл-расплав в условиях различных модификаций метода Чохральского
• Прецизионные структурные исследования, тепловые колебания атомов и физические свойства кристаллов
• Синтез, электрические, магнитные и спектральные свойства нового класса электропроводящих солей с переносом заряда на основе фталоцианинов и йода
• Прецизионная электронография
• Экспериментальное исследование тепловых условий кристаллизации расплава в процессе выращивания монокристаллов иттрий-алюминиевого граната
• Рост, структура и свойства монокристаллов твердых растворов семейства титанил-фосфата калия (KTiOPO4 )