Ви є тут

Интерпретация данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии тонких пленок с применением глобальной минимизации

Автор: 

Самойленко Иван Иванович

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

1999

Артикул:

1000221282

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа
• Одержання, будова і електрохімічні властивості наночастинок оксидів титану, магнію та їх гідратованих форм
• Управление ростом кристаллов и моделирование процессов тепломассопереноса для условий микрогравитации
• Атомно-силовая микроскопия сегнетоэлектрических микро- и нанодоменных структур
• Синтез, структуроутворення та фотокаталітичні властивості нанокристалічного титану(IV) оксиду, допованого сіркою
• Пространственная структура медных полиядерных оксидаз - лакказ Coriolus zonatus и Cerrena maxima
• Синтез, структуроутворення та фотокаталітичні властивості нанокристалічного титану(IV) оксиду, допованого сіркою
• Рентгеноструктурные исследования и установление закономерных связей структура-свойства в кристаллах твердых растворов K1-x(Ti1-xNbx)OPO4 и K1-x(Ti1-xSbx)OPO4
• Фазовые равновесия в системе PbF2-BaF2-InF3-AlF3-LiF и стеклообразование на ее основе
• Рентгеноструктурное исследование комплексов неорганической пирофосфатазы из E. coli с металлом-ингибитором и аналогом субстрата при атомном разрешении