Ви є тут

Интерпретация данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии тонких пленок с применением глобальной минимизации

Автор: 

Самойленко Иван Иванович

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

1999

Артикул:

1000221282

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Исследование дефектной структуры гетеровалентных твердых растворов Cd0.90R0.10F2.10
• Исследование условий образования двойников роста и сферолитов
• Сегнетоэластические свойства монокристаллов ортоарсената свинца
• Вопросы теории упругости квазикристаллов
• Закономерные связи состав-структура-свойства в кристаллах семейства титанил-фосфата калия, установленные методами прецизионного рентгеноструктурного анализа
• Абсорбционная микротомография и топо-томография слабопоглощающих кристаллов с использованием лабораторных рентгеновских источников
• Атомно-силовая микроскопия кристаллов и пленок со сложной морфологией поверхности
• Синтез, структуроутворення та фотокаталітичні властивості нанокристалічного титану(IV) оксиду, допованого сіркою
• Синтез, структуроутворення та фотокаталітичні властивості нанокристалічного титану(IV) оксиду, допованого сіркою
• Одержання, будова і електрохімічні властивості наночастинок оксидів титану, магнію та їх гідратованих форм