Вы здесь

Интерпретация данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии тонких пленок с применением глобальной минимизации

Автор: 

Самойленко Иван Иванович

Тип работы: 

Кандидатская

Год: 

1999

Артикул:

1000221282

179 грн

Добавить в корзину

• 
• 
• 

Рекомендуемые диссертации

• Рентгеноструктурные исследования лейцинспецифичного белка с разрешением 4 А
• Абсорбционная микротомография и топо-томография слабопоглощающих кристаллов с использованием лабораторных рентгеновских источников
• Электроннооптические исследования ранних стадий формирования пленок гранецентрированных кубических металлов на щелочно-галлоидных кристаллах
• Структурные аспекты углеводной специфичности лектинов
• Рентгеноструктурные исследования и установление закономерных связей структура-свойства в кристаллах твердых растворов K1-x(Ti1-xNbx)OPO4 и K1-x(Ti1-xSbx)OPO4
• Синтез, структура та електрохімічні властивості оксидних наноматеріалів
• Структура и пироэлектрические свойства монокристаллов семейства титанил-фосфата калия
• Формирование доменной структуры и преобразование частоты в кристаллах ниобата лития
• Исследование влияния некоторых факторов роста на реальную структуру кристаллов KDP
• Рентгеноструктурные исследования депсипептидов валиномицинового ряда