Вы здесь

Интерпретация данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии тонких пленок с применением глобальной минимизации

Автор: 

Самойленко Иван Иванович

Тип работы: 

Кандидатская

Год: 

1999

Артикул:

1000221282

179 грн

Добавить в корзину

• 
• 
• 

Рекомендуемые диссертации

• Кристаллизация редкоземельно-алюминиевых ортоборатов и гептатанталатов (Nd,Y,Yb) из молибдатных и боратных растворов-расплавов
• Жидкофазная эпитаксия ниобата лития
• Исследование условий образования двойников роста и сферолитов
• Спектроскопия кругового дихроизма гиротропных кристаллов
• Прецизионные структурные исследования, тепловые колебания атомов и физические свойства кристаллов
• Фазовые равновесия в системе PbF2-BaF2-InF3-AlF3-LiF и стеклообразование на ее основе
• Синтез, структуроутворення та фотокаталітичні властивості нанокристалічного титану(IV) оксиду, допованого сіркою
• Влияние химического состава и высоких давлений на структурные изменения минералов и синтетических соединенйи со смешанными и октаэдрическими каркасами
• Механизм ингибирования уридинфосфорилазы из Salmonella typhimurium (stuph) и homo sapiens (huphi) 2,2`-ангидроуридином по результатам рентгеноструктурного анализа и компьютерного моделирования
• Исследование поглощения и скорости ультразвука частотой 120 МГц в ТГС и сегнетовой соли вблизи точек фазовых переходов импедансным методом