Ви є тут

Локальная диагностика объектов микро-, нано- и оптоэлектроники в вакууме, газе и жидкости методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии

Автор: 

Голубок Александр Олегович

Тип роботи: 

Докторская

Рік: 

1999

Артикул:

1000220992

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Моделирование формирования глубоких канавок в кремнии в Bosch-процессе
• Разработка технологии КМОП ИС на структурах КНД
• Исследование планарных полупроводниковых структур методами линейного и нелинейного отражения света
• Повышение качества процессов получения диэлектрических покрытий : при изготовлении элементов РЭУ
• Электрофизические свойства и оптимизация параметров эпитаксиальных псевдоморфных НЕМТ структур с односторонним и двухсторонним дельта - легированием
• Влияние конструктивно-технологических факторов на электрические параметры мощных ВЧ и СВЧ МОП транзисторов
• Разработка и исследование объемных ВТСП изделий из иттриевой керамики и электронных устройств на их основе
• Стимулированное излучение донорами V-группы в деформированном кремнии
• Тонкопленочные структуры молибден-медь с эффектом близости и сверхпроводниковым переходом для сверхчувствительных субмиллиметровых болометров
• Импедансные фильтры на поверхностных акустических волнах с веерными преобразователями