- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Разработка измерительных программ для ИС К174 с применением методов электрофизического диагностирования в условиях массового производства
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
1998
Артикул:
1000218453 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование процесса формирования изображения мягким рентгеновским и вакуумным ультрафиолетовым излучением в микролитографии
- Исследование тонкопленочных нанокомпозитов сегнетоэлектрик-полупроводник для оптоэлектронных применений
- Формирование локальных высокоомных пористых областей в кремнии и кремний-германии методом неоднородного химического травления
- Датчики на поверхностных акустических волнах с управляемой химической селективностью для систем электронного носа и газовой хроматографии
- Микроэлектронный и оптоэлектронный принципы построения полупроводникового преобразователя частоты сверхвысокочастотного диапазона
- Прогнозирование эффектов функциональных сбоев в микросхемах запоминающих устройств на структурах кремний-на-сапфире при импульсных ионизирующих воздействиях
- Моделирование и схемотехника СВЧ-транзисторного генератора с невзаимным элементом в цепи обратной связи
- Идентификация фаз в системах Ba-Bi-O и K-Ba-Bi-O методами просвечивающей электронной микроскопии
- Формирование и диагностика нанометровых многослойных гетероструктур с двумерным электронным газом высокой плотности
- Разработка конструкции и технологии формирования радиационно-стойких биполярных полупроводниковых структур