ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
1. ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ПРЯМОЙ ОЦЕНКИ НАПРЯЖЕННОСТИ
ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ
1.1. Методы исследования электромагнитных полей
1.2. Методы производственного контроля качества электромагнитных
изделий
1.3. Способы визуализации электромагнитных полей
2. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ ИССЛЕДОВАНИЯ.
3. ИССЛЕДОВАНИЕ НЕОДНОРОДНЫХ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ
3.1. Применение муаровой методики при контроле качества
печатных плат на производстве
3.2. Физическая модель магнитного поля плоского проводника
с током на отверстии.
3.3. Математическая модель магнитного поля плоского проводника
с током на отверстии.
3.4. Выводы.
4. ФРАКТАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ МУАРОВЫХ КАРТИН.
4.1. Применение фрактального анализа к муаровой методике
4.2. Фильтрация муаровых картин.
4.3. Вычисление фрактальной размерности муаровой картины
4.4. Выводы.
5. ИНФОРМАЦИОННОИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА
КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ПРОВОДНИКОВ
5.1. Структура информационноизмерительной системы
контроля качества плоских проводников
5.2. Аппаратные средства
5.3. Программное обеспечение
5.4. Выводы.
6. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОСНОВАНИЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ
ИНФОРМАЦИОННОИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ПРОВОДНИКОВ
6.1. Предварительная обработка экспериментальных данных
по металлизированным отверстиям печатных плат.
6.2. Исследование вероятности брака контроля при использовании
Информационноизмерительной системы.
6.3. Выводы.
ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЯ.
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ
- Київ+380960830922