СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
1. МЕТОДЫ ДИАГНОСТИКИ ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ
НАНО И МИКРОСТРУКТУР. СИСТЕМЫ ОБРАБОТКИ ИНФОРМАЦИИ
1.1 Диагностика с помощью дифракции медленных
электронов ДМЭ
1.1.1 Системы регистрации дифракционных картин
1.1.2 Компьютерные методы обработки дифракционных
1.1.2.1 Тензор ДМЭ
1.1.3 Применение метода ДМЭ
1.2. Диагностика с помощью электронной Оже
спектроскопии ЭОС
1.2.1 Ожеспектрометры
1.2.2 Область применения ЭОС
1.3. Диагностика с помощью полевой электронной
микроскопии ПЭМ
1.3.1 Применение ПЭМ
1.3.2 Регистрация и обработка информации
1.4. Диагностика с помощью полевой ионной
микроскопии ПИМ
1.4.1 Применение полевой ионной микроскопии
1.4.2 Визуализация ионных картин, регистрация и
обработка информации
1.5. Диагностика диэлектрических свойств материалов
1.5.1 Принципы широкополосной диэлектрической
спектрометрии
1.5.2 Диэлектрические спектрометры
1.6. Системы обработки визуализированной инфор
1.6.1 Регистрация и обработка фотографических
изображений
1.6.2 Телевизионные системы регистрации и обработки
изображений
1.7 Выводы
2. МЕТОД ПРИМЕНЕНИЯ КОМПЬЮТЕРНЫХ
ТЕХНОЛОГИЙ ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ НАНО И МИКРОСТРУКТУР
2.1. Применение компьютерных методов исследований
2.2. Моделирование компьютерной системы
2.3. Реализация компьютерной системы
2.3.1. Выбор базового компьютера
2.3.2. Устройства связи центрального компьютера с
инструментальным модулем
2.3.3. Реализация компьютерного комплекса диагностики
2.3.4. Задачи разработки специализированных устройств
2.4. Разработка программного обеспечения комплекса
диагностики
2.4.1. Задачи и предпосылки построения информационно
экспертной системы
ГЛАВА
2.4.2. Идентификация систем
2.4.2.1. Алгоритмы поиска в пространстве параметров и их
2.4.3. Задачи разработки программного обеспечения
3. СПЕЦИАЛИЗИРОВАННЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ
МЕТОДЫ И СРЕДСТВА КОМПЛЕКСА ДИАГНОСТИКИ
3.1. Технические методы и средства регистрации и
предварительной обработки визуализированной информации
3.1.1. Система регистрации фотографических 5 изображений
3.1.2. Система регистрации и обработки изображений на
базе видеокамеры
3.1.2.1 Преобразователь изображений
3.1.2.2 Системное программное обеспечение регистрации и
обработки визуализированной информации
3.2. Система амплитудного и статистического анализа
3.2.1. Статистический анализ
3.2.2. Амплитудный анализ
3.2.3 Заключение
3.3. Система диэлектрической спектрометрии
3.4. Заключение
4. ИНФОРМАЦИОННОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ И
ПРОГРАММНАЯ ПОДДЕРЖКА КОМПЛЕКСА ДИАГНОСТИКИ
4.1. Структура и системные программные средства
комплекса диагностики твердотельных нано и микроструктур
4.1.1. Структура информационноэкспертной системы.
Принципы функционирования
4.1.2. Системное программное обеспечение
информационного модуля
4.2. Обработка визуализированной информации
4.2.1. Предварительная обработка визуализированной
информации
4.2.2. Классификация и идентификация изображений
4.3. Алгоритмическое обеспечение диагностических
исследований в условиях вакуума
4.3.1. Обработка данных, полученных с помощью ДМЭ
4.3.1.1. Обработка данных ДМЭ с помощью
математического моделирования
4.3.1.2. Алгоритмы интеллектуальной поддержки
исследования методом ДМЭ
4.3.2. Обработка информации, полученной методом
полевой электронной микроскопии
4.3.2.1. Обработка полевых электронных изображений
4.3.2.2. Анализ поверхностной миграции и адсорбции
4.3.2.3. Регистрация, обработка и анализ информации при
импульсных методах исследования
4.3.3. Обработка полевых ионных изображений с
помощью математического моделирования
Моделирование ионных изображений Быстрая обработка полевых ионных изображений Обработка диэлектрометрической информации Предварительная обработка диэлектрометрической информации
Регистрация и предварительная обработка
диэлектрометрической информации Визуализация диэлектрометрической информации Диэлектрическая диаграмма как инструмент обработки диэлектрометрической информации Диагностика материалов с несколькими группами времен релаксации
Интеллектуальная поддержка обработки
диэлектрометрической информации
Унифицированная нормализованная модельная
функция диэлектрической системы
Структурные модельные элементы
Идентификация модели и ее параметров при анализе
диэлектрометрических откликов
Базовые элементы информационноэкспертной
системы
Заключение
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ ПРИЛОЖЕНИЕ 1. Универсальная система диэлектрической спектрометрии ПРИЛОЖЕНИЕ 2. Система моделирования пластических операций
ВВЕДЕНИЕ
Актуальность
- Київ+380960830922