Разработка и исследование автоматизированных методов спектрального экспресс-анализа на основе виртуальных эталонов

Введение
Глава 1. Методы обработки измерительной информации в спектральном
анализе
1.1 Сущность атомноэмиссионного спектрального анализа.
1.1.1 Интенсивность спектрального излучения и ее зависимость от содержания элементов.
1.1.2 Методы определения относительной интенсивности излучения
1.2 Способы практического определения количественного состава элементов
1.2.1 Фотографический метод регистрации излучения
1.2.2 Фотоэлектрический метод регистрации излучения
1.2.3 Аналитический метод определения концентрации с использованием одного стандартного образца
1.3 Определение погрешностей в спектральном анализе
1.3.1 Фотографический метод исследований.
1.3.2 Фотоэлектрический метод исследований.
1.4 Методы совершенствования количественных анализов.
1.4.1 Фотографические методы анализа.
1.4.2 Фотоэлектрические методы анализа.
1.5 Выводы.
Глава 2. Особенности аналитических систем анализа с виртуальными
эталонами и условия их создания.
2.1 Перспективы применения виртуальных эталонов
2.2 Исследование особенностей предлагаемых методов.
2.2.1 Метод изолированного контрольного эталона
2.2.2 Сущность метода расчетного эталона.
2.3 Условия создания систем анализа с расчетными параметрами эталонов.
2.3.1 Разработка метода многопараметровых функциональных
зависимостей
2.4 Основные требования к методическому и программному обеспечению
2.5 Выводы.
Глава 3. Разработка и исследование методик расчетов оптимальных
параметров виртуальных эталонов для исследуемых образцов
3.1 Постановка задачи.
3.1.1 Исходные уравнения модели
3.2 Принцип автоматического корректирования и определение параметров элементов виртуального эталона.
3.3 Структурная схема и алгоритм анализа
3.3.1 Построение структурной схемы и методика выполнения анализов
3.3.2 Вывод основного уравнения эталона для ветвей
3.3.3 Пример построения градуировочной функции для элемента стандартного образца.
3.3.4 Алгоритм анализов и пример расчета массовых долей элементов
3.3.5 Пример определения массовой доли элемента
3.4 Экспериментальная проверка.
3.5 Выводы.
Глава 4. Разработка способов дальнейшего повышения эффективности
анализов с использованием стандартных образцов и виртуальных эталонов
4.1 Постановка задачи
4.2 Сущность метода стандартного образца контрольного эталона
4.3 Разработка метода внутреннего стандарта виртуального эталона
4.3.1 Пример практического расчета параметров виртуального эталона
4.4 Экспериментальная проверка предложенного способа.
4.5 Определение марок неизвестных материалов.
4.5.1 Выбор способа обработки информации.
4.5.2 Алгоритм и программное обеспечение.
4.6 Разработка принципов практического использования систем входного контроля на основе виртуальных эталонов
4.6.1 Метод последовательных приближений.
4.6.2 Метод одного виртуального эталона
4.7 Выводы.
Глава 5. Разработка, исследование и оптимизация методик и
программного обеспечения для виртуального эталона
5.1 Определение состава контролируемых объектов
5.1.1 Метод расчетной матрицы
5.1.2 Оценка приближенного результата анализа
5.1.3 Корректирование полученного результата.
5.1.4 Пример определения конечных результатов.
5.2 Методика определения задающего параметра.
5.3 Разработка методического обеспечения.
5.3.1 Конечный результат анализа.
5.3.2 Пример определения конечных результатов
5.4 Градуирование систем обработки результатов измерений.
5.5 Программный порядок проведения анализов
5.6 Дальнейшее повышение точности с использованием двух стандартных образцов.
5.6.1 Построение алгоритма для фотоэлектрического анализа
5.7 Выводы.
Глава 6. Разработка комплексного фотоэлектрического анализатора на
основе фотодиодных линеек.
6.1 Традиционный способ использования линеек.
6.2 Общие принципы работы рассматриваемого анализатора.
6.2.1 Введение.
6.2.2 Конструкция
6.2.3 Многофазный тактовый генератор.
6.2.4 Блок управления
6.2.5 Функционирование устройства
6.2.6 Программное обеспечение
6.3 Физические основы работы фотодиодных преобразователей
6.3.1 Особенности анализатора
6.3.2 Порядок проведения анализов
6.4 Определение параметров виртуальных эталонов на стадии градуирования системы
6.4.1 Сущность предлагаемого способа градуирования.
6.4.2 Порядок определения коэффициентов К1.
6.5 Программное обеспечение для градуирования
6.5.1 Структура и состав базы данных.
6.5.2 Формирование групп материалов
6.5.3 Стирание групп материалов
6.5.4 Создание анализируемых марок сплавов.
6.5.5 Стирание анализируемых марок сплавов.
6.5.6 Режим поиска.
6.6 Экспериментальная проверка.
6.7 Выводы.
Заключение.
Литература