Ви є тут

Разработка и исследование количественного и структурного контроля материалов методами спектрального анализа

Автор: 
Шишкин Дмитрий Сергеевич
Тип роботи: 
Дис. канд. техн. наук
Рік: 
2005
Артикул:
567413
179 грн
Додати в кошик

Вміст

СОДЕРЖАНИЕ
Глава 1. Методы и средства атомноэмиссионного спектрального анализа
1.1 Сущность метода, его назначение, основные цели и задачи
1.1.1 Основные принципы определения интенсивности излучения
1.1.2 Фотографический метод регистрации излучения
а. Метод трех эталонов
б. Метод контрольного эталона.
1.1.3 Фотоэлектрический метод регистрации излучения
1.2 Принципы построения автоматизированных систем.
1.3 Автоматизированные системы фотографического анализа
1.4 Автоматизированные системы фотоэлектрического анализа
1.5 Совершенствование фотоэлектрических систем
1.5.1 Внедрение многоканальных приемников излучения
1.5.2 Многоканальный анализатор атомноэмиссионных спектров МАЭС.
1.5.3 Переносной оптический эмиссионный спектрометр
1.5.4 Цифровой тандем У5Ьс11 с камерой на линейном датчике ЫУ1ЬХ1А
1.5.5 Видео матрицы на основе диодных линеек.
1.6 Выводы.
Глава 2. Разработка и исследование аналитических методов
структурного анализа
2.1 Особенности изолированных систем обработки данных
2.2 Принцип преобразования реальных систем в изолированные.
2.2.1 Общие уравнения для фазового смещения
2.2.2 Принцип построения неравновесных систем
2.3 Преобразование параметров в системах обработки данных при изменении условий теплообмена с внешней средой
2.4 Разработка методики разделения количественного состава и структурных свойств материалов
2.4.1 Экспериментальное подтверждение
2.4.2 Структурная схема контроля механических свойств
2.5 Оценки степени гомологичности аналитических систем.
2.5.1 Метод оценки гомологичности по фазовым соотношениям
2.6 Разработка методики определения погрешностей при количественном и структурном анализе
2.7 Выводы.
Глава 3. Разработка аналитических методов количественного анализа на основе использования контрольных эталонов
3.1 Цель исследований
3.2 Разработка методов многопараметрового анализа для оптимизации моделей анализа в широком диапазоне изменения содержания элементов
3.3 Способы создания измерительновычислительных систем обработки данных.
3.4 Сущность метода последовательных приближений
3.5 Алгоритм метода последовательных приближений
3.6 Экспериментальная проверка метода вычислений
3.6.1 Пример расчета при фотографическом анализе
3.6.2 Пример расчета при фотоэлектрическом анализе для
диодных линеек.
3.6.3 Экспериментальные данные фотоэлектрического анализа комплекта ГСО для сплава алюминия АК5М.
3.7. Исследования многопараметровых моделей обработки информации.
3.7.1 Сущность многопараметровых методов и их значение.
3.7.2 Разработка способов количественных оценок достоверности получаемых результатов.
3.8 Разработка и исследование входного экспресс контроля материалов.
3.8.1 Постановка задачи.
3.8.2 Основные принципы входного контроля.
3.8.3 Разработка способа расчета энергетических характеристик.
3.9 Структурная схема входного контроля материалов
3. Выводы
Глава 4. Исследование, разработка и внедрение специализированных устройств спектрального анализа
4.1 Основные требования к разрабатываемым устройствам.
4.1.1 Общие характеристики разрабатываемых устройств.
4.2 Устройство и принцип работы фотоэлектрического анализатора
для контроля структурных особенностей.
4.3 Устройство и принцип работы фотоэлектрического анализатора
для входного контроля материалов
4.3.1 Назначение системы .
4.3.2 Технические характеристики и условия эксплуатации
4.4 Описание работы компонентов системы
4.4.1 Фоторегистрирующий блок
4.4.2 Особенности конструкции узлов приемников излучения.
4.4.3 Структурная схема измерительного комплекса.
4.4.4 Разработка метода распознавания образов спектральных линий
4.5 Рабочая программа для системы
4.5.1 Интерфейс рабочей программы
4.5.2 Описание режимов работы программного обеспечения
4.5.3 Управление прожигом
4.6 Расчт концентраций в системе ..
4.7 Разработка базового анализатора фотографического типа.
4.7.1 Структура базового анализатора.
4.7.2 Принцип работы анализатора.
4.7.3 Методика определения концентрации элементов
4.8 Разработка модифицированного анализатора фотографического
типа с умножением частоты.
4.8.1 Структура модифицированного анализатора
4.8.2 Принцип работы анализатора.
4.9 Разработка модифицированного анализатора фотографического
типа с визуальной коррекцией
4.9.1 Структура анализатора
4.9.2 Состав модифицированного анализатора.
4.9.3 Принцип работы анализатора
4.9.4 Поиск аналитических линий.
4.9.5 Вычисление концентрации.
4. Выводы
Заключение.
Список литературы