ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. ЧАСТОТНЫЕ ЗАВИСИМОСТИ КОМПЛЕКСНОЙ МАГНИТНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ГЕКСАФЕРРИТОВ В МИКРОВОЛНОВОМ ДИАПАЗОНЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ. АНАЛИТИЧЕСКИЙ ОБЗОР ЛИТЕРАТУРНЫХ ИСТОЧНИКОВ
1.1. Электромагнитные характеристики ферритов.
1.2. Связь динамических и статических магнитных характеристик ферритов
1.3. Влияние температуры па магнитные свойства гексаферритов
1.4. Современная технология производства сплошных гексаферритов, крупнозернистых и напоразмерных порошков
1.5. Электромагнитные свойства композиционных материалов
1.6. Современные экспериментальные средства.
1.7. Выводы.
ГЛАВА 2. ИССЛЕДОВАНИЕ НЕРЕГУЛЯРНОГО МИКРОПОЛОСКОВОГО РЕЗОНАТОРА
2.1. Описание конструкции измерительной ячейки
2.2. Теоретическое исследование амплитудночастотной характеристики НМПР
2.2.1. Влияние диэлектрических параметров.
2.2.2. Влияние магнитных параметров.
2.2.3. Влияние магнитных параметров на первую моду
2.2.4. Влияние магнитных параметров на вторуютретью моды.
2.3. Алгоритм вычисления величин комплексной магнитной проницаемости по результатам эксперимента.
2.3.1. Метод двух максимумов. Измерение магнитной проницаемости материалов с малыми потерями
2.3.2. Метод моментов. Измерение магнитной проницаемости материалов с большими потерями.
2.4. Выводы.
ГЛАВА 3. АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ РАДИОСПЕКТРОСКОП ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНЫХ ЗАВИСИМОСТЕЙ СПЕКТРОВ МАГНИТНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ.
3.1.Описание установки.
3.2. СВЧ тракт.
3.3. Описание измерительных ячеек
3.4. Температурный блок
3.5. Измерительновычислительный комплекс для сбора и обработки данных.
3.6. Оценка погрешности измерений
3.7. Оценка достоверности измерений
3.8. Выводы
ГЛАВА 4. ИЗМЕРЕНИЕ СПЕКТРОВ МАГНИТНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ.
4.1. Выбор объекта исследования
4.2. Синтез материалов и приготовление образцов
4.3. Температурные зависимости магнитной проницаемости гсксаферритов СоопШ, СоопХУ и Со2пУ.
4.3.1. Сплошные образцы
4.3.2. Порошки и нанопорошки.
4.4. Температурные зависимости спектров магнитной проницаемости гексаферритов СоТ1М, СоТцМ, 2.
4.5. Коэффициент отражения поглощающего слоя на основе гсксаферрита Утипа.
4.6. Выводы.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ
- Київ+380960830922