Ви є тут

Еліпсометрія надграток і розупорядкованих поверхонь монокристалів GaAs і Si

Автор: 
Михайлик Тетяна Аркадіївна
Тип роботи: 
Дис. канд. наук
Рік: 
2000
Артикул:
0400U001850 (Д)
129 грн
Додати в кошик