СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
РАЗДЕЛ 1. Анализ современного состояния микросхем оперативной
памяти и методов их диагностирования
1.1. Обзор современного состояния микросхем оперативной памяти
1.2. Модели неисправностей микросхем памяти
1.3. Классификация тестов для диагностирования запоминающих
устройств
1.3.1. Особенности тестов типа n-циклов
1.3.2. Особенности тестов типа n/- циклов
1.4. Выводы к первому
разделу
РАЗДЕЛ 2. Модели, методы и средства тестового диагностирования
запоминающих устройств
2.1. Математическая модель запоминающего устройства и средства
диагностирования
2.2. Метод переноса программ тестов, разработанных при помощи
ММТ, в новое окружение
2.3. Задачи выбора тестов для диагностирования запоминающих
устройств
2.4. Модель процесса покрытия неисправностей микросхем памяти
2.5. Семантические аспекты языка программирования Prover
2.6. Методы синтеза микроопераций алгоритмов тестов
диагностирования запоминающих устройств
2.6.1. Синтез микроопераций теста MATS++
2.6.2. Синтез микроопераций теста March FD
2.6.3. Синтез U-Y-схемы алгоритма теста March FD
2.6.4. Синтез U-Y-схемы алгоритма теста March_A
2.7. Синтез программ тестов при помощи интерпретирующей
системы Prоvеr
2.8. Выводы по второму
разделу
РАЗДЕЛ 3. Синтез методов и средств для эффективного диагностирования
запоминающих устройств
3.1. Метод выбора тестов полупроводниковой памяти при наличии
априорных данных о свойствах тестов
3.2. Метод выбора тестов при помощи нечетких правил по алгоритму
Сугено
3.3. Определение обобщенного показателя эксплуатационной
эффективности диагностирования при помощи нечетких правил
3.4. Выводы к третьему
разделу
РАЗДЕЛ 4. Практическое применение методов выбора оптимизированного
набора тестов
4.1. Выбор оптимизированной последовательности тестов
при известных априорных данных о свойствах тестов
4.2. Метод определения эффективности систем диагностирования
запоминающих устройств
4.3. Выбор тестов при наличии статистических данные о количестве
забракованных микросхем в различных партиях изделий
4.4. Метод адаптивного диагностирования микросхем памяти
4.5. Оптимизация набора тестов при помощи метода
«прямое включение»
4.6. Применение нечеткой базы правил для выбора эффективного
набора тестов
4.7. Выбор средств для верификации моделей микросхем памяти
4.8. Выводы к четвертому
разделу
ВЫВОДЫ
Приложение А. Листинг программы теста March FD на языке Prover
Приложение Б. Листинг программы Optimal_Test
Приложение В. Довідка про впровадження програми вибору
модулів пам’яті
Приложение Г. Довідка про впровадження результатів
наукових досліджень
СПИСОК
- Київ+380960830922