- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Високороздільна Х-променева дифрактометрія структурних порушень у приповерхневих шарах Si та кристалічних з'єднань CdHgTe, YLaFeO після іонної імплантації
Тип роботи:
Дис. канд. наук
Рік:
2009
Артикул:
0409U005410 129 грн
Рекомендовані дисертації
- Тунельна спектроскопія елементарних збуджень в сильнокорельованих системах (металооксиди)
- Нові принципи динамічної трикристальної рентгенівської дифрактометрії мікродефектів в реальних монокристалах
- Полімеризація плівок фулеритів С60 при легуванні металами та опроміненні
- Конкурентоспроможність банку на регіональному ринку
- Полімеризація плівок фулеритів С60 при легуванні металами та опроміненні
- Полідоменна сегнетоеластична структура та її взаємодія з точковими дефектами в твердотілих оксидних електролітах
- Особливості формування та функціонування регіональних ринків плодоовочевої продукції (на матеріалах Чернігівської області)
- Електрофізичні властивості двокомпонентних та гетерогенних плівкових матеріалів на основі перехідних d-металів
- Процеси самоорганізації та формування дисипативних структур в некристалічних матеріалах
- Дослідження процесів релаксації та взаємодії електронів у мікроконтактах і кристалах вісмуту методом фокусування електронів провідності