- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Високороздільна Х-променева дифрактометрія структурних порушень у приповерхневих шарах Si та кристалічних з'єднань CdHgTe, YLaFeO після іонної імплантації
Тип роботи:
Дис. канд. наук
Рік:
2009
Артикул:
0409U005410 129 грн
Рекомендовані дисертації
- Кінетика фазових перетворень при конкурентному утворені декількох фаз.
- Вплив термовідпалу на дислокаційно-домішкову структуру кристалів
- Основні закономірності формування доменної структури у сегнетоеластиках і багатоосьових сегнетоелектриках.
- Топографія і дифрактометрія кристалів кремнію з дислокаціями і мікродефектами в умовах Х-променевого акустичного резонансу
- Структура, кінетика зростання та властивості плівок боридів та боронiтридів ванадію та танталу
- Фотостимульована модифікація і оптичні властивості плівок алмазоподібного вуглецю.
- Формування структури та коефіцієнт тріщиностійкості композиційних керамічних матеріалів з ультрадисперсними включеннями вуглецю.
- Фотодіелектричний ефект у молібдаті свинцю PbMoO4.
- Моделювання дефектоутворення під час вирощування бездислокаційних монокристалів кремнію
- Дефектно-домішкова взаємодія в кремнії, легованому ізовалентними домішками