Ви є тут

Високороздільна Х-променева дифрактометрія структурних порушень у приповерхневих шарах Si та кристалічних з'єднань CdHgTe, YLaFeO після іонної імплантації

Автор: 
Каземірський Тарас Анатолійович
Тип роботи: 
Дис. канд. наук
Рік: 
2009
Артикул:
0409U005410
129 грн
Додати в кошик