- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования электрофизических свойств материалов наноэлектроники и структур на их основе
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2008
Артикул:
5663 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Экситоны и поляритоны в полупроводниковых квантовых ямах и микрорезонаторах
- Влияние межэлектронного взаимодействия на спиновые свойства одномерных и квазиодномерных проводников
- Фрактальная структура и электронные свойства нанокластеров металлов, сформированных при высоких скоростях осаждения
- Электрические, упругие и неупругие свойства нанокомпозитов системы нитрит натрия - пористое стекло
- ЭПР и закономерности распределения парамагнитных точечных дефектов в кристаллах
- Эффекты фазового перехода в кристаллах каломели
- Локализованные состояния и их генеалогия в ковалентных кристаллах
- Изучение угловых распределений гамма-квантов, резонансно рассеянных ядрами 57 Ге в сплавах и соединениях железа
- Структурные и физические характеристики многокомпонентных неупорядоченных систем на основе халькогенидов цинка
- Низкотемпературные динамические свойства стеклоподобных систем