- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования электрофизических свойств материалов наноэлектроники и структур на их основе
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2008
Артикул:
5663 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Самозбірка низькорозмірних систем AI, Ni, Ti та Si за умов близькорівноважної конденсації
- Неравновесные ансамбли дислокаций в границах зерен и их роль в свойствах поликристаллов
- Смена механизмов резистивности ВТСП плёнок при переходе в сверхпроводящее состояние
- Численные расчеты электронной структуры сильно коррелированных 3d соединений: выход за рамки приближения локальной электронной плотности
- Оптико-магнитная спектроскопия Рубина
- Адсорбция короткоцепочечных ионогенных ПАВ в водных дисперсиях аэросила по данным ЯМР 13С
- Ионолюминесценция и дефектообразование в широкощелевых кристаллах при воздействии тяжелых заряженных частиц
- Эмиссионные свойства автокатодов на основе углеродных наноструктурированных материалов
- Структура, електричні та магнітні властивості інтеркальованого перехідними металами графіту
- Структура и свойства высокотемпературных сверхпроводящих керамик, подвергнутых деформационным и термическим воздействиям