- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования электрофизических свойств материалов наноэлектроники и структур на их основе
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2008
Артикул:
5663 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Особенности разогрева и релаксации горячих электронов в тонкопленочных сверхпроводниковых наноструктурах и 2D полупроводниковых гетероструктурах при поглощении излучения инфракрасного и терагерцового диапазонов
- Теплоемкость и кинетические коэффициенты слаболегированных Мотт-Хаббардовских систем
- Зарождение фаз в твердых телах и релаксация внутренних напряжений в гетерофазных системах
- Низкотемпературная радиационная повреждаемость аустенитных сталей, облученных в исследовательских и энергетических реакторах
- Теплофизические свойства легированного кремния
- Численное исследование особенностей теплообмена при выращивании оксидных кристаллов методом Чохральского
- Экситоны в сверхрешетках на основе ферромагнитных полупроводников
- Образование и пространственно-временная динамика структур в нематическом жидком кристалле при воздействии электрического поля
- Кинетические особенности экзоэмиссии в процессе деформации металлов
- Полевые полупроводниковые гетероструктуры с распределенными параметрами и зарядовой связью по обогащенному слою