- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Количественный анализ атомной структуры поверхностных фаз с помощью сканирующей туннельной микроскопии
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2006
Кількість сторінок:
166
Артикул:
6109 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Сканирующая зондовая микроскопия наноразмерных гетероструктур для полупроводниковых лазеров
- Радиационная электропроводность полимеров при длительном облучении
- Ультразвуковые исследования кристаллов с высокой ионной подвижностью и фазовых переходов ртути в пористых стеклах
- Исследование свойств фуллеренов и нанотрубок методом молекулярной динамики
- Квантовый транспорт в вертикальных двойных квантовых точках на основе арсенида галлия при сверхнизких температурах
- Формирование структуры плазменных порошковых покрытий при высокоэнергетических воздействиях
- Закономерности изнашивания титана ВТ1-0 и сплавов ПТ-3В и ВТ6 с крупнозернистой и ультрамелкозернистой структурой
- Физические свойства границы раздела конденсированная среда-газ в эмиссионных ионизационных детекторах
- К статистической теории фазовых равновесий в 2-компонентных ассоциирующих блок-сополимерных и низкомолекулярных системах
- Фазовый состав и тонкая структура интерметаллида Ni3 Al, полученного методом самораспространяющегося высокотемпературного синтеза под давлением