- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Количественный анализ атомной структуры поверхностных фаз с помощью сканирующей туннельной микроскопии
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2006
Кількість сторінок:
166
Артикул:
6109 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Локализация электронных состояний и электромагнитных волн в наноразмерных и микроструктурированных системах с дефектами
- Влияние липидного состава и присутствия полимеров на латеральную диффузию и состояние липидов в модельных биомембранах
- Влияние экранирования деполяризующих полей на кинетику доменной структуры монокристаллов семейства ниобата лития и танталата лития
- Замороженное магнитосопротивление в гранулированных высокотемпературных сверхпроводниках и свойства контактов металл-ВТСП
- Радиационное создание Сl-3-центров и катионных дефектов в кристаллах КСl, легированных катионами-гомологами
- Особенности статических свойств доменной структуры в пластинах (III) с комбинированной анизотропией
- Моделирование атомарной структуры и диффузионных свойств точечных дефектов в кубических системах
- Механизм чувствительности МДП-сенсоров и возможности их использования в качестве чувствительных элементов газоанализаторов
- Динамический режим электронного транспорта через примесь в одномерной системе взаимодействующих электронов
- Магнитные и транспортные свойства соединений с тяжелыми фермионами CeB6 и Ce(Al,M)2 (M - Co, Ni)